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ICP-AES法直接测定锡锭中的As、Al、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Se、Sb、Zn 被引量:7
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作者 刘崇华 钟志光 +2 位作者 卞群洲 卢焯冬 贺柏龄 《光谱实验室》 CAS CSCD 2000年第1期82-84,共3页
以电荷耦合器件为检测器的全谱直读等离子体光谱仪直接测定锡锭中As、Al、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Se、Sb、Zn 十种杂质元素的含量。该方法简便、快速且具有比化学法更低的检出限,加标回收试验结果表明,回收率为92... 以电荷耦合器件为检测器的全谱直读等离子体光谱仪直接测定锡锭中As、Al、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Se、Sb、Zn 十种杂质元素的含量。该方法简便、快速且具有比化学法更低的检出限,加标回收试验结果表明,回收率为92% - 105% ,RSD 均小于1.5% 。 展开更多
关键词 锡锭 基体效应 电感耦合器件 等离子体光谱仪
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