ICP-AES测定工业用氢氧化钠中Fe、Si、Ca和Mg

电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)同时测定了工业用氢氧化钠中Fe、Si、Ca、Mg,探讨了功率对测定结果的影响,用离峰扣背景法消除背景干扰,用基体校正系数消除基体干扰,加标回收率在97.9%—105%之间。

分子筛和担体中主含量元素和杂质元素的同时测定

本文研究了用微波消化试样，ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定分子筛及担体中的主含量元素Ｓｉ、Ａｌ和杂质元素Ｆｅ、Ｎａ、Ｃａ、Ｍｇ的方法。相对标准偏差：Ｓｉ、Ａｌ＜２％，Ｆｅ、Ｎａ、Ｃａ、Ｍｇ≤４％，杂质元素回收率为９７％—１０７％。方法快速，简便，准确，可靠。