期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
被引量:
2
1
作者
李少平
肖庆中
《电子产品可靠性与环境试验》
2002年第2期60-62,共3页
分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性,介绍了CMOS集成电路新的测试方法--IDD频谱图形测试方法的测试原理,以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图。
关键词
CMOS集成电路
idd频谱图形
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
测试原理
下载PDF
职称材料
题名
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
被引量:
2
1
作者
李少平
肖庆中
机构
信息产业部电子第五研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2002年第2期60-62,共3页
基金
电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室基金项目:集成电路IDD频谱图形测试方法研究
99JS03.7.1ZS0305
文摘
分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性,介绍了CMOS集成电路新的测试方法--IDD频谱图形测试方法的测试原理,以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图。
关键词
CMOS集成电路
idd频谱图形
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
测试原理
Keywords
CMOS IC;
idd
; defect; switch current; spectrum graphics; test vector
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
李少平
肖庆中
《电子产品可靠性与环境试验》
2002
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部