IEC61000-4-30:2008《电磁兼容(EMC)-试验和测量技术-电能质量测量方法》标准介绍

本文主要介绍了IEC61000-4-30:2008《电磁兼容(EMC)-试验和测量技术-电能质量测量方法》标准,本标准是被公认为EMC领域一个基础的公共出版物,通过本版本的介绍,与2003版加以区别,为使用者提供更好的借鉴。

IEC 61000-4-8中矩形感应线圈磁场均匀性缺陷的分析

首先推导了矩形感应线圈的磁感应强度空间分布解析表达式,通过数值仿真分析磁感应强度沿各轴向的变化趋势和磁场空间分布特性,指出现有标准定义的3 dB试验区域内存在12个磁感应强度基准偏差超出±3 dB的缺陷区域,并对分析结果进行实验验证。

IEC61000-4-5第3版解析

基于IEC 61000-4-5:2014浪涌抗扰度试验标准,解析了标准中相对于IEC 61000-4-5:2005在雷击浪涌波形参数、持续时间和波前时间的定义、浪涌发生器及耦合去耦网络的浪涌波形特性指标的变化。研究了雷击浪涌信号线测试及校准方法。最后介绍了浪涌测试的不确定度评定方法。

IEC 61000-4-3的多频率辐射抗扰度试验方法解析

IEC 61000-4-3第四版标准草案纳入了多频率辐射抗扰度试验方法。分析了多频率信号输出的互调现象和所需功率;阐述了试验系统饱和状态、线性和谐波的系统确认方法,以及试验结果的判定方法;介绍了试验系统的实现方式。

IEC 61000-4-12第3版的新变化

基于IEC 61000-4-12第3版振铃波抗扰度试验标准,与IEC 61000-4-12第2版相比较,解析了标准中关于振铃波发生器和耦合去耦网络参数指标以及校准方法的变化、原因以及对测试的影响,介绍了测量不确定度的评定思路。

IEC61000-4-3场地校正光纤自动测试系统

利用BorlandC＋＋forWindows设计开发了“IEC61000－4－3场地校正光纤自动测试系统”，并对所属的电波暗室（12．6m×7．8m×6m）进行了多次对比测试试验。与手工测得的结果进行对比，两者完全一致，符合IEC61000－4－3场地校正部分的要求。达到了设计的预期目的，提高了测试效率及测量精度。

基于IEC标准的新型电能质量监测装置

为了研发新一代电能质量监测装置,首先分析了IEC电能质量测量标准(IEC61000-4-30I、EC61000-4-7、IEC61000-4-15)中的数据窗口宽度、谐波算法、谐波子群、闪变测量模型等重要问题,然后提出了一种适合IEC谐波测量标准的谐波算法——分块FFT算法,在此基础上研发成功PQM09-6多回路电能质量在线监测装置。专业机构提供的测试报告表明:PQM09-6多回路电能质量在线监测装置符合IEC标准规定的设计原则,具有电能质量测量的A级一致性,并能同时监测6个电力回路(6×3电压、6×3电流)。

笔记本的近距离射频干扰测试方法研究

移动便携式发射机的近距离射频干扰(CPRFI)会影响电子产品的性能,进而影响客户体验。为了评估电子产品对CPRFI的抗干扰能力,IEC制定了IEC 61000-4-39:2017。该文以笔记本电脑为研究对象,首先通过深入分析标准的应用,探讨了CPRFI测试方法及其理论依据;其次进一步分析了调制方式、测试距离和试验场强对测试结果的影响;最后提出了该方法的选用建议。通过该文的研究与分析,为评估电子产品CPRFI的抗干扰能力提供一定的指导和参考,用以改善客户体验,确保产品在实际使用过程中的性能稳定性和可靠性。

电能质量监测设备的检定平台设计与应用

搭建了一个电能质量监测设备的检定平台,该平台围绕IEC61000-4-30所提出的测量方法、测量准确度和稳态性能三个方面对电能质量监测设备进行检定,可以为国内相应电能质量监测设备入网检定规范提供参考。此外,根据检定的内容设计相应的波形库并进行了实验。经实验证明,该平台可以完成各项电能质量指标的校准检定,具有一定的工程实用价值。

ESD防护器件HMM和TLP测试方法及性能评价

人体–金属模型波形(HMM)和传输线脉冲(TLP)波形是静电放电防护器件测试时常用的注入波形。针对静电放电(ESD)防护器件,介绍了这2种波形的测试方法。通过对同一型号瞬态电压抑制器进行测量,获取器件的瞬态波形、钳位电压、损伤阈值、瞬态阻抗等特性参数,并对结果进行分析比较。测试结果表明,基于IEC标准的HMM测试所能得到的有效信息最少;基于TLP的HMM测试可直观得到被测器件的静电放电瞬态响应;TLP矩形波测试结果的稳定性好,测量参数的可重复性高。

对耦合板间接静电放电辐射场的数值分析

静电放电(ESD)抗扰度实验是电磁兼容(EMC)实验和测试技术的一项非常重要的实验之一,主要用于测试电子器件及设备的电磁敏感度.目前该标准规定了2种放电方式:直接放电和间接放电.其中间接放电模拟的是带电操作人员对受试器件放电的情形,这在实际生活中经常发生.本文基于IEC61000-4-2中规定的抗扰度实验平台,采用时域有限差分法(FDTD),结合脉冲函数形式的放电电流波形表达式,在对垂直耦合板实施间接放电情形下,对其附近空间的瞬态辐射场作了数值分析与计算.

使用天线监测场强的混响室场均匀性校准方法

由于传统电场探头在某些环境下进行混响室校准具有局限性,提出使用天线进行混响室场均匀性校准的方法。对两种方法进行了论述,并进行了实地测试,数据处理后分别得到同一混响室条件下两种方法所得场均匀性标准差,经过相关系数运算,可得出两种方法具有较好的一致性的结论。

一种电能质量数据交换文件生成方案

随着我国经济的发展,用户对电网的电能质量的要求趋高,正确监测记录电能质量数据显得尤为重要。本文以IEC 61000-4-30标准为依据,提出了一种PQDIF文件生成方案。该方案以10周波数据为统计基础,严格遵守IEC61000-4-30A级标准,正确完整地实现了PQDIF的文件格式。在该方案的基础上,本文研发出支撑标准体系的电能质量监测终端。该终端在CPU和DSP间以HTM总线为传输通道,将统计数据传送到操作系统侧。操作系统采用MySQL数据库为存储引擎,为上层IEC 61850、LCD等应用提供服务接口,实现了PQDIF文件的存储、查询及删除等功能。搭建试验平台。测试结果表明,该方案准确地实现了IEC61000-4-30标准要求。研发的电能质量监测终端已经被成功应用在安徽、四川及重庆等地,运行稳定可靠,为用户电能质量治理提供了坚实的数据基础。

静电放电发生器的结构原理及研究现状

静电放电发生器是模拟静电放电过程、进行静电放电抗扰度试验的平台。本文在IEC61000-4-2标准的基础上,介绍了静电放电发生器的基本结构原理和测试模型,并概述了目前国内外市场上两种基本类型的静电放电发生器产品的原理及特点,提出存在的问题,为静电放电发生器今后的改进提供了依据。

EFT测试干扰机理和辐射特性分析

根据IEC 61000-4-4:2012推荐的数学表达式,在时域和频域上分析了电快速瞬变脉冲群的干扰机理。采用基于光纤传输的瞬态电磁场测量系统对电快速脉冲群试验辐射场强进行了测试评估。给出了容性耦合夹水平面0~200 cm和垂直方向0~50 cm(在坐标为50 cm处和100 cm处)的辐射场强分布。

辐射抗扰度均匀域校准方法的仿真与分析

基于射频电磁场辐射抗扰度的原理,用MATLAB工具建模,对比分析射频电磁场辐射抗扰度测试中的两种场均匀域校准方法:恒定场强法和恒定功率法。仿真结果表明,理论上两种方法完全等效,产生的均匀域相同。

快速电压变化及闪变影响研究

分析IEC 61000-4-30第3版对快速电压变化(RVC)的规定,并比较该规定与其它标准对RVC的评估要求。鉴于电压变化可能会影响闪变,通过试验研究了RVC与闪变间可能存在的关系。

解析ISO 10605:2008

介绍ISO10605:2008新版标准中人体ESD模型的分类及表征特性;与2001版相比,新版标准增加了150pF/330Ω和330pF/330Ω两种放电模块。同时,介绍了新版标准中接触法校准静电枪的内容和最新的勘误单。最后讨论了静电枪的接地方式,指出静电枪的接地线与水平耦合平面直接相连的情况并不能达到考核受试设备的效果。

500kV气体绝缘变电站开关操作对智能组件电流互感器端口电磁骚扰的实测及分析

智能变电站多将保护和控制以及监测等电子设备下放到汇控柜内,由于距离电磁骚扰源更近,使得这些电子设备的电磁兼容问题更加突出。为此,运用自制的电磁瞬态测量系统,对某500 kV气体绝缘变电站调试期间隔离开关和断路器操作在汇控柜电流互感器组件端口产生的骚扰电压进行了测量。测量结果显示,气体绝缘开关设备汇控柜内智能组件端口共模骚扰电压最大值为326.75 V,差模骚扰电压最大值为189.84 V。并分析比较了隔离开关操作、断路器合闸操作和断路器分闸–合闸–闸操作时端口骚扰电压的差异。断路器操作时端口骚扰电压有可观的幅值水平,尤其是断路器分闸–合闸–分闸操作时端口骚扰电压在幅值、微脉冲持续时间和上升沿上较隔离开关操作时有更为严重的情况出现。最后,研究了IEC 61000-4-18阻尼振荡波试验标准与实测波形的对应情况。实测波形参数和标准波形参数略有差异,总体的对应情况较好。实测端口的电磁骚扰水平低于IEC 61000-4-18标准的试验等级1。

PESD测试中静电枪表现的性能的研究

在本文中,我们介绍了两种不同类型的ESD静电枪(ESS-200AX和ESD 3000),分别用两种ESD静电枪对芯片进行抗干扰度测试,研究两种类型的ESD静电枪对同种样本芯片表现的性能。结果显示,对于完全符合IEC 61000-4-2要求的不同的ESD静电枪表现出不完全的一致性。为了比较IC的ESD性能,我们目前主要采用同一系列的芯片采用相同的ESD静电枪进行测试。