IEC 61215标准中紫外试验的解读

本文详细解读了IEC61215:2005标准中的紫外预处理试验。介绍了材料耐候性老化测试原理,包括户外老化及紫外光加速老化测试原理,从光谱的定义、辐照度的设定、温度及湿度控制等几个方面对IEC61215:2005标准中的紫外试验进行分析。最后指出QUV运行该标准时的参数设定。

电流连续性监控对PERC单晶硅光伏组件环境试验结果的影响研究

IEC 61215-2:2016标准要求其部分试验需要在测试过程中监控光伏组件内部电路的连续性,在测试中发现,监控时所施加的电流会对PERC单晶硅光伏组件环境试验后的输出功率衰减产生很大影响,即试验后的PERC单晶硅光伏组件整体的输出功率衰减情况除试验本身所造成的输出功率衰减外,还包含了由于电流连续性监控造成的输出功率衰减。设计了PERC单晶硅光伏组件在环境试验时进行电流连续性监控与不进行电流连续性监控时的对比测试方案,并在实验室进行了测试,研究了电流连续性监控对PERC单晶硅光伏组件环境试验结果的影响。测试结果表明:在相同的环境条件下,相较于不进行电流连续性监控,进行电流连续性监控会使PERC单晶硅光伏组件出现更大的输出功率衰减,且与未进行电流连续性监控的PERC单晶硅光伏组件表现出不同的衰减机理。期望本研究结果可为今后PERC单晶硅光伏组件的输出功率衰减研究提供参考。

光照恢复处理对采用不同封装材料的p型PERC双面光伏组件PID的影响

根据IEC 61215:2021系列标准中的测试序列,在对p型PERC双面光伏组件进行PID测试后,再对其背面进行光照恢复处理,用于观察采用不同封装材料时该类光伏组件的输出功率衰减情况。当以EVA胶膜作为封装材料时,在光伏组件背面观察到2种PID机理,分别是因减反射/钝化层的极化引起的光伏组件输出功率衰减(PID-p)和因电化学腐蚀导致的光伏组件输出功率衰减(PID-c)。测试结果表明:当p型PERC双面光伏组件采用EVA胶膜封装时,随着PID测试时间的延长,PID-c越来越严重;光照恢复处理后,PID-p造成的光伏组件输出功率衰减可以得到大幅恢复,但因PID-c导致的光伏组件输出功率衰减并未得到恢复;采用由高体积电阻率的ENGAGETM PV POE为原料生产的POE胶膜作为封装材料时,p型PERC双面光伏组件在不同测试条件下均始终保持非常低的输出功率衰减。研究结果也可进一步证实不同封装材料对光伏组件长期可靠性的影响并不会因为测试序列的更改而改变。