基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计

随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方案,系统能够实现混合电路的互连测试与参数测试,通过74BCT8373与STA400芯片对系统的测试功能进行了验证。实验结果表明,该系统测试简单,测量准确。该测试系统的研究设计为下一步进行混合电子系统机内测试设计奠定了基础。

基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法

随着高速信号测试需求的逐渐增加,IEEE 1149.6标准的应用前景越来越广,本文从IEEE1149.6标准的产生入手,主要介绍了IEEE 1149.6标准与IEEE 1149.1标准的区别,后文中通过测试验证实例,详细介绍了IEEE 1149.6标准中的故障类型,该方法目前已在数字电路高速通道测试中凸显作用。

基于IEEE 1149.4标准的参数测试系统的设计

为了实现对混合信号电路的参数测试,本文提出一种以FPGA为主控器的基于IEEE 1149.4标准的参数测试系统。实验结果表明,该系统符合IEEE 1149.4标准的基本要求,测试准确。该测试系统的设计为IEEE 1149.4标准提供了一种实现方法,可扩展性强,为更好的解决混合电路测试打下了良好的基础。

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。

基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究

针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求。

IEEE1149协议与在系统可编程实验系统的设计

介绍了 IEEE114 9协议及工作原理 ,分析了几种流行的在系统可编程器件的结构和在系统编程原理 ,设计了融合多种可编程器件的实验系统 ,能满足教学实验需要和科研开发应用的需要 ,具有较强的通用性和实用性。

IEEE1149.7标准两线星型扫描格式研究

针对目前现代测试系统集成度越来越高,IEEE 1149.7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状.以IEEE 1149.7标准为依据,在深入研究该标准的基础上,利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器,并进行了仿真验证.结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的Mscan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号.

基于IEEE1149.X标准的测试技术研究

IEEE1149标准及其子标准是基于边界扫描的测试技术,它们针对不同的应用环境采用相应的技术标准。它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试。本文讨论了IEEE1149.X中各标准的原理、结构,分析了各项技术的发展及应用,并举例说明了在实际中的测试应用。

IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展

在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上，讨论了研究与发展IEEE1149．1可测试性设计技术的重要意义，以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。

基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究

针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。

IEEE1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现

提出了加强测试存取口（ＴＡＰ）功能的一种方法，使之可以随两个时钟工作，一个用于控制与ＩＥＥＥ１１４９．１标准相兼容的操作，另一个控制器件所固有的可测试特性．这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性．

从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展

边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向。

航天器可测试性设计研究

在调研国内外可测试性技术发展历程的基础上,分析中国航天器可测试性设计技术与国外的差距,探讨其发展的前提条件和规划方法,提出适合中国航天器的可测试性设计的技术实现途径.

RISC CPU的边界扫描电路设计与实现

随着集成电路设计规模不断地扩大、复杂性不断地提高,芯核的可测性已成为设计中不可忽视的环节。边界扫描测试技术作为其中一种方法已被广泛地接受和使用。它能够有效地缩短测试施加时间,提高故障诊断率。本文讨论了边界扫描电路的基本结构和测试思想,设计并实现了RISC CPU中的边界扫描电路,电路结构采用Verilog HDL描述,最后使用Modelsim进行仿真并给出仿真结果。

混合信号电路可测性结构研究

在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描的混合信号电路的可测性结构进行了探索;对所设计混合信号电路可测性结构用可编程逻辑器件及外部模拟电路进行硬件的具体实现,构建了验证模块DOT4MBST;同时以DOT4MBST与IEEE1149.4工作组提供的标准验证芯片为核心对同结构的混合信号电路构建了验证电路;最后对验证模块DOT4MBST及验证电路进行了测试验证,测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。

Nexperia平台JTAG控制器设计与实现

描述了一种针对Nexperia多媒体平台PNX1300/PNX1500系列DSPCPU的PCI接口的JTAG控制器设计和实现。重点介绍JTAG接口标准,工作原理及其JTAG控制器的电路设计和程序设计,已实际应用在基于PNX1300的嵌入式系统调试中,取得了很好的效果。

模拟信号扩展互连测试自动测试矢量生成研究

模拟电路网络的自动测试矢量生成是混合信号测试研究的重点和难点,以IEEE1149.4标准为基础,建立模拟电路网络测试的模型及测试方法,并提出一种适用于模拟扩展互连测试自动测试矢量生成的算法,基于此方法,构建了相应的软件测试系统,通过编译Protel网表文件、BSDL文件、自定义测试模型流程文件及扫描单元真值表文件,提取相关信息,完成测试矢量的自动生成;结果显示,该算法产生的测试矢量可准确控制内部开关的导通,形成测试通路,满足模拟扩展互连测试的要求。

研究成果转化为专业教学实验的成功尝试

IEEE1149.X标准是解决当前高密、多维、高技术封装等电路系统测试问题的利器,已在一些教材中作为可测性设计标准列为教学内容。由于其新颖性和要求较高的软硬件资源,如何开出其实验一直是一难题。文章详述将已有科研成果转化为专业教学实验,在国内可测性教学中首次实现IEEE1149.X标准教学实验,收到良好效果。为标准的教学与普及作了一次成功的尝试。

边界扫描技术在复杂电路缺陷检测中的应用

在我国的电子产品制造业，传统的顶针测试方法伴随着电路越来越复杂，元件密度目益加大而面临严峻的考验。利用边界扫描技术可以很好地解决进行电路功能与缺陷检测的问题，增加设备的可维护性。文章在介绍边界扫描技术的基础上，提出了一个基于BST技术的基本电路缺陷检测方案。

边界扫描测试系统软件设计与实现

为推动边界扫描技术在故障诊断领域中的应用,对边界扫描测试技术进行了研究,设计并开发了一种基于VXI总线的边界扫描测试系统；文章介绍了边界扫描的基本结构和测试原理,并重点介绍了开发边界扫描测试系统软件的流程；实验结果表明,开发的边界扫描测试系统能够利用器件的边界扫描描述文件,自动生成测试向量并完成对数字电路的测试以及故障诊断等任务,同时可以对设置的故障进行精确的定位和隔离。