IEEE1149协议与在系统可编程实验系统的设计

介绍了 IEEE114 9协议及工作原理 ,分析了几种流行的在系统可编程器件的结构和在系统编程原理 ,设计了融合多种可编程器件的实验系统 ,能满足教学实验需要和科研开发应用的需要 ,具有较强的通用性和实用性。

基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法

随着高速信号测试需求的逐渐增加,IEEE 1149.6标准的应用前景越来越广,本文从IEEE1149.6标准的产生入手,主要介绍了IEEE 1149.6标准与IEEE 1149.1标准的区别,后文中通过测试验证实例,详细介绍了IEEE 1149.6标准中的故障类型,该方法目前已在数字电路高速通道测试中凸显作用。

FPGA配置芯片测试方法的研究与实现

集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试。介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给出了具体测试过程,符合IEEE1149.1边界扫描规范,为具有JTAG接口的元器件测试提供了依据。

基于JTAG技术的FLASH加载——一种新的在板编程技术

对现在流行的JTAG加载FLASH技术的原理、性能(实验结果)、应用场合及运用JTAG 技术加载FLASH的好处进行比较详细的分析。