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IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准
1
作者 姜岩峰 张东 王鑫 《电子测试》 2011年第7期16-19,74,共5页
模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信... 模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。 展开更多
关键词 混合信号 ieee1149.4标准 边界扫描
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An IEEE 1149.x Embedded Test Coprocessor 被引量:1
2
作者 Ukbagiorgis Iyasu Gebremeskel José Manuel Martins Ferreira 《Circuits and Systems》 2014年第7期170-180,共11页
This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The c... This paper describes a microprogrammed architecture for an embedded coprocessor that is able to control IEEE 1149.1 to IEEE 1149.7 test infrastructures, and explains how to expand the supported test command set. The coprocessor uses a fast simplex link (FSL) channel to interface a 32-bit MicroBlaze CPU, but it can work with any microprocessor core that accepts this simple FIFO-based interface method. The implementation cost (logic resource usage for a Xilinx Spartan-6 FPGA) and the performance data (operating frequency) are presented for a test command set comprising two parts: 1) the full IEEE 1149.1 structural test operations;2) a subset of IEEE 1149.7 operations selected to illustrate the implementation of advanced scan formats. 展开更多
关键词 BUILT-IN test boundary-scan EMBEDDED COPROCESSORS MICROBLAZE IEEE 1149.1 IEEE 1149.7
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SoC中混合信号测试与可测性设计研究 被引量:1
3
作者 魏淑华 侯明金 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2010年第S1期190-194,共5页
SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方... SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方法的基本原理,并对混合信号测试技术的发展作了展望. 展开更多
关键词 混合信号 故障诊断 DFT BIST 边界扫描 ieee1149.4
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基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计 被引量:3
4
作者 鲁巍 杨修涛 李晓维 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第19期30-31,87,共3页
剖析了JTAG标准的精髓,分析了其组成﹑功能与时序控制等关键技术,结合一款通用CPU的具体要求,给出了一种实现JTAG结构的具体方法,并介绍了其功能测试的方法。
关键词 边界扫描 可测性设计 IEEEI 149.1 标准(JTAG)
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基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究 被引量:2
5
作者 周银 周浔 +1 位作者 陈圣俭 王月芳 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2012年第5期1190-1193,共4页
集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难;IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEE... 集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难;IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用;文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法。 展开更多
关键词 SOC IEEE STD 1500 IP核 边界扫描 测试
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边界扫描测试协议剖析——从1149.1到1149.6 被引量:9
6
作者 陈新武 余本海 《计算机与数字工程》 2005年第1期25-29,共5页
本文对边界扫描协议IEEEStd 114 9.1- 1990到IEEEStd 114 9.6 - 2 0 0 3的多个协议进行了介绍和剖析 ,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色 ,总结了边界扫描技术的最新进展 ,并对以后边... 本文对边界扫描协议IEEEStd 114 9.1- 1990到IEEEStd 114 9.6 - 2 0 0 3的多个协议进行了介绍和剖析 ,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色 ,总结了边界扫描技术的最新进展 ,并对以后边界扫描的发展方向给出了预测。 展开更多
关键词 边界扫描 IEEE STD 1149.1 IEEE STD 1149.4 IEEE STD 1149.5 IEEE STD 1149.6
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一种混合信号边界扫描测试系统的设计
7
作者 梁海浪 雷加 黄新 《现代电子技术》 2011年第15期155-158,共4页
IEEE 1149.4的推出为混合信号测试提供了一个标准,推动了混合信号边界扫描测试技术的研究。简要介绍了IEEE 1149.4标准及混合信号测试方法,并根据标准定义的测试结构设计出一种混合信号边界扫描测试系统。经过测试验证,该系统能够对混... IEEE 1149.4的推出为混合信号测试提供了一个标准,推动了混合信号边界扫描测试技术的研究。简要介绍了IEEE 1149.4标准及混合信号测试方法,并根据标准定义的测试结构设计出一种混合信号边界扫描测试系统。经过测试验证,该系统能够对混合信号电路进行互连测试和参数测试,可实现准确的故障诊断,具有一定的实用价值。 展开更多
关键词 边界扫描 混合信号 ieee1149.4标准 互连测试 参数测试
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混合信号电路可测性结构研究 被引量:1
8
作者 苏波 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2012年第11期2870-2872,共3页
在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描的混合信号电路的可测性结构进行了探索;对所设计混合信号电路可测性结构用可编程逻辑器件及外部模拟电路进行硬件的具体实现,构建了验证模块DOT4MBST;同时以DOT4MBST与IEE... 在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描的混合信号电路的可测性结构进行了探索;对所设计混合信号电路可测性结构用可编程逻辑器件及外部模拟电路进行硬件的具体实现,构建了验证模块DOT4MBST;同时以DOT4MBST与IEEE1149.4工作组提供的标准验证芯片为核心对同结构的混合信号电路构建了验证电路;最后对验证模块DOT4MBST及验证电路进行了测试验证,测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。 展开更多
关键词 IEEE1149 4 标准 边界扫描 混合信号
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基于IEEE 1149.4标准的验证电路设计 被引量:2
9
作者 刘华林 雷加 颜学龙 《电子工程师》 2004年第9期10-13,共4页
介绍了基于IEEE 114 9.4混合信号测试总线标准的验证电路设计 ,利用复杂可编程逻辑器件 (CPLD)、模拟开关ADG2 0 2A和电压比较器LM311等器件 ,实现了该标准所定义的测试结构。它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性 ,对... 介绍了基于IEEE 114 9.4混合信号测试总线标准的验证电路设计 ,利用复杂可编程逻辑器件 (CPLD)、模拟开关ADG2 0 2A和电压比较器LM311等器件 ,实现了该标准所定义的测试结构。它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性 ,对于今后推广标准在混合信号芯片中的应用将起到积极的作用。 展开更多
关键词 IEEE 1149.4标准 边界扫描 验证电路 电路测试
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支持SVF的边界扫描测试系统的设计与实现 被引量:1
10
作者 胡莲 《测控技术》 CSCD 2005年第4期14-16,26,共4页
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径。本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连... 边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径。本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型。 展开更多
关键词 边界扫描测试 IEEE1149.1标准 测试图形生成 串行向量格式
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边界扫描测试电路的设计 被引量:7
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作者 王孜 刘洪民 吴德馨 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2003年第1期71-73,77,共4页
 讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构,并针对光纤通信系统中的32:1时分复用芯片设计了边界扫描电路,给出了模拟结果。
关键词 边界扫描测试电路 设计方法 光纤通信 时分复用芯片 板级测试 IEEE标准1149.1
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具备兼容性和层次性的SOC测试控制结构设计 被引量:2
12
作者 鲍芳 赵元富 杜俊 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期222-225,240,共5页
IP核的集成问题是SOC设计的关键,测试集成更是无法回避的难题。因此,灵活高效的测试控制结构成为SOC可测性设计的重要研究内容。文章分析了IEEE Std 1149.1对传统IC芯片内部和外部测试的整体控制能力;剖析了IEEE Std 1500TM对嵌入式IP... IP核的集成问题是SOC设计的关键,测试集成更是无法回避的难题。因此,灵活高效的测试控制结构成为SOC可测性设计的重要研究内容。文章分析了IEEE Std 1149.1对传统IC芯片内部和外部测试的整体控制能力;剖析了IEEE Std 1500TM对嵌入式IP核测试所做规定的标准性和可配置性。在此基础上,提出了一种复用芯片级测试控制器的测试控制结构,该结构能兼容不同类型的IP核,并且有助于实现复杂SOC的层次性测试控制。 展开更多
关键词 SOC 测试控制结构 IEEE STD 1500 边界扫描
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基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究 被引量:4
13
作者 江坤 高俊强 《国外电子测量技术》 2013年第5期41-43,56,共4页
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以... 随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。 展开更多
关键词 IEEE 1149 7标准 TAP控制器命令 边界扫描 测试控制器
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基于JTAG技术的Flash加载 被引量:3
14
作者 郑先刚 张学斌 《现代电子技术》 2004年第11期5-7,共3页
主要介绍了目前世界上主要流行的一种 Flash加载技术利用 JTAG技术加载 F lash。文章分为 3个部分。首先描述了 JTA G加载 F lash的原理。然后对 JTA G加载 F lash的优点做了说明。
关键词 边界扫描 边界扫描国际标准 在板编程 在线编程 系统编程
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IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展 被引量:1
15
作者 邱峰 梁松海 《测控技术》 CSCD 1999年第1期28-30,共3页
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
关键词 可测试性设计 边界扫描测试 VLSI 超大规模
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边界扫描测试技术及其应用 被引量:1
16
作者 胡莲 肖铁军 《微处理机》 2004年第2期35-37,40,共4页
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案 ,极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、结构 ,讨论了边界扫描测试技术的应用。
关键词 边界扫描测试 可测性设计 IEEE1149.1标准 集成电路 数字系统
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边界扫描结构和IEEE1149.1标准
17
作者 王新政 蔡绪涛 +1 位作者 陈达 王浩宇 《海军航空工程学院学报》 2006年第5期535-538,共4页
介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,以及IEEE 1149.1标准规定必须的3个指令.
关键词 边界扫描结构 测试操作 IEEE 149.1寄存器 IEEE 1149.1指令
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IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究
18
作者 刘林生 张东 陈建新 《电子测试》 2012年第5期1-6,共6页
本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模... 本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。 展开更多
关键词 IEEE 1149.4标准 混合信号 边界扫描 电路测试
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基于JTAG的线路板测试性设计研究
19
作者 张景辉 蔡绪涛 张贵银 《仪器仪表用户》 2008年第1期19-21,共3页
本文讨论了边界扫描测试性设计原理和方法.研究了线路板互连故障模型.并对故障模型进行了一些简化测试的等效处理.建立了边界扫描测试数学模型。基于这些模型,原理和方法.提出了两种优化的边界扫描互连测试算法。然后用边界扫描测性设... 本文讨论了边界扫描测试性设计原理和方法.研究了线路板互连故障模型.并对故障模型进行了一些简化测试的等效处理.建立了边界扫描测试数学模型。基于这些模型,原理和方法.提出了两种优化的边界扫描互连测试算法。然后用边界扫描测性设计方法进行线路板的测试性设计.两种优化算法的正确性和有效性得到了验证。 展开更多
关键词 边界扫描 测试性设计 PCB IEEE 1149.1标准
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