基于IEEE1149.4标准TAP控制器的设计

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计已成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在基于IEEE1149.4标准的混合信号电路的可测性设计中,测试访问口(test access port,TAP)控制器设计的地位比较突出,是非常重要的一环。本文从标准要求出发,对TAP控制采用硬件描述语言加以实现并进行了仿真验证,从仿真结果看该设计是正确可行的。

基于IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的测试技术研究

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描可测性结构进行了探索,具有重要的理论价值和实际意义。

基于IEEE1149.4标准的模拟电路故障诊断研究

随着电子系统的集成度越来越高,内部结构越来越复杂,传统的物理探针已经无法满足测试要求。简要介绍了IEEE1149.4标准和支持向量机理论基础,提出了一种基于IEEE1149.4标准的模拟电路故障诊断方案。该方法利用SVM实现故障检测,结合电路分块方法和IEEE1149.4标准中的开关矩阵对电路分块,实现故障定位。最后对此方法的可行性和准确性进行了仿真验证,结果表明此方法在准确判断电路是否存在故障的同时,也能实现故障定位,达到误判率为零的结果 。

IEEE标准接地网设计及计算示例

随着“一带一路”的推进,国外设计项目日益增多,大部分项目技术合同对接地设计均要求满足IEEE标准。本文通过印度尼西亚某燃煤电站主接地网的设计计算示例,对按照IEEE接地标准设计的接地网设计思路进行简述。

IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准

模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。

基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计

随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方案,系统能够实现混合电路的互连测试与参数测试,通过74BCT8373与STA400芯片对系统的测试功能进行了验证。实验结果表明,该系统测试简单,测量准确。该测试系统的研究设计为下一步进行混合电子系统机内测试设计奠定了基础。

基于IEEE 1149.4标准的验证电路设计

介绍了基于IEEE 114 9.4混合信号测试总线标准的验证电路设计 ,利用复杂可编程逻辑器件 (CPLD)、模拟开关ADG2 0 2A和电压比较器LM311等器件 ,实现了该标准所定义的测试结构。它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性 ,对于今后推广标准在混合信号芯片中的应用将起到积极的作用。

IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究

本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。

IEEE标准必要专利政策演化分析

当前,标准必要专利成为国家核心竞争力的关键因素。本文基于IEEE相关政策文件,梳理并分析了IEEE标准必要专利政策的产生背景和历年演化过程,在此基础上发现IEEE在制定标准必要专利政策时,有着过程严格公开、吸引公众参与、聚焦现实问题、强调“保证书”等特点;同时,也存在相关定义模糊、相关政策与法律违背、对权利人不公平等问题。中国在制定相关政策时,也应处理好专利和反垄断之间的关系,充分考虑政策中各角色的权利。

我国牵头的《XR扩展现实设备舒适性技术要求》获得IEEE国际标准立项

经过近一年多的准备和努力,中国标准化研究院基础标准化研究所张运红团队牵头的元宇宙设备技术标准《XR扩展现实设备舒适性技术要求》(Guide for Comfort Requirements for Extended Reality(XR)Devices)在IEEE标准协会获得成功立项(标准号为IEEE P3322)。张运红博士被任命为IEEE SDSC(IEEE Smart Device Standards Committee)智能终端人因与工效学工作组主席,积极协调和推进IEEE智能终端人因与工效学相关标准研制工作。

标准对话:国外标准化组织2024年工作规划

为加强标准化对外交流,了解国外标准化机构的重点工作,推动标准化领域的深入合作,2024年3月15日,《中国标准化》杂志社邀请了中国标准化协会理事长于欣丽为主持人,IEEE标准协会史上第一位中国籍主席袁昱、ASTM国际标准组织中国办事处运营经理胡亚楠、欧盟驻华标准化专家项目(SESEC)总监徐斌以及美国国家标准化机构(ANSI)中国首席代表许方为嘉宾,展开了一场标准对话。

IEEE标准大会落地深圳,发布无人机应用合格评定计划

11月6~8日,电气电子工程师学会(IEEE)标准大会在深圳举行。IEEE标准大会的主题是“引领数字化,促进全球化”,旨在搭建政产学研用交流平台,围绕电气工程、通信技术、计算机科学、人工智能等主题,组织了一系列立足深圳,辐射湾区,面向全国,放眼国际的标准互动交流,达成了一系列体现行业主张、凝聚思想智慧的标准化成果。

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。

基于IEEE1149．4标准的K节点故障诊断方法研究

IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法;在IEEE1149．4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上,结合K节点故障的可测性原则和测试节点选择方法,实现对常规的复杂无源模拟电路网络进行符合IEEE1149．4标准的可测性设计进行故障诊断,并通过实例验证该方法的有效性。

IEEE1149.4测试系统的研究与设计

分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,设计方案正确,结构简单。

基于IEEE802.15.4标准的无线传感器网络

设计实现了一种基于IEEE802.15.4标准的无线传感器网络,传感器对周围的环境进行监测,内嵌的单片机对数据进行处理,通过基于IEEE802.15.4标准的无线模块进行无线传输,构成一个无线传感器网络。对无线传感器的结构设计和无线传输网络的具体实现过程进行了阐述,最后,给出了实验数据,并进行了分析。

嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500综述

介绍了IEEE 1500标准制定的历程和背景、SoC测试面临的重大挑战及该标准所要解决的问题、IEEE 1500标准的基本结构和使用方法,最后对该标准的未来提出展望。

基于IEEE 1451.2标准的网络传感器TMI1451.2-KC

自动化领域广泛使用的网络传感器 ,不具有互换性。IEEE 145 1.2标准为控制网络和传感器之间定义了一个标准接口 ,把对网络的选择和传感器的选择分开。本文在简要回顾传感器发展史的基础上 ,概述了IEEE 145 1.2标准的由来 ,论述了基于IEEE 145 1.2标准的网络传感器TMI145 1.2-KC的结构。

基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计

随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用。本文在研究IEEE1500标准的硬件结构基础上,讨论了1500的测试指令集,然后以基准电路集ISCAS89中的s349时序电路为例,对其进行全扫描设计之后,详细说明了基于IEEE1500标准的IP核测试壳各部分的设计过程,最后通过仿真实验,验证了在不同测试指令和故障模式下,测试壳的有效性。

一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构

IEEE1149.1(也称JTAG)是支持芯片边界扫描的国际标准,提供了统一的测试访问端口。如今,它已成为芯片必不可少的一种“开销”。本文通过定制JTAG逻辑,以求用最少的开销,最简单灵活的方式来管理各种DFT逻辑。