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从边界扫描技术协议讨论其发展与应用
被引量:
2
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作者
肖小清
师谦
+1 位作者
恩云飞
周继承
《电子质量》
2007年第6期59-61,共3页
边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测。
关键词
边界扫描
IEEE1149.1
IEEE1149.4
IEEE1149.5
IEEE1149.6
ieee1532
下载PDF
职称材料
题名
从边界扫描技术协议讨论其发展与应用
被引量:
2
1
作者
肖小清
师谦
恩云飞
周继承
机构
信息产业部电子第五研究所
中南大学物理学院
出处
《电子质量》
2007年第6期59-61,共3页
文摘
边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测。
关键词
边界扫描
IEEE1149.1
IEEE1149.4
IEEE1149.5
IEEE1149.6
ieee1532
Keywords
Perimeter scan
IEEE1149.1
IEEE1149.4
IEEE1149.5
IEEE1149.6
ieee1532
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
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作者
出处
发文年
被引量
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1
从边界扫描技术协议讨论其发展与应用
肖小清
师谦
恩云飞
周继承
《电子质量》
2007
2
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