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从边界扫描技术协议讨论其发展与应用 被引量:2
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作者 肖小清 师谦 +1 位作者 恩云飞 周继承 《电子质量》 2007年第6期59-61,共3页
边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测。
关键词 边界扫描 IEEE1149.1 IEEE1149.4 IEEE1149.5 IEEE1149.6 ieee1532
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