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VA族元素对阳极铅(Ⅱ)氧化物膜半导体性质的影响(Ⅱ) 被引量:5
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作者 浦琮 周伟舫 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1994年第4期348-353,共6页
用光电化学电流法研究了铅、铅砷、铅锑和铅铋合金在4.5mol·L-1H2SO4溶液(22℃)中,以0.9V(vs.Hg/Hg2SO4)极化7h而形成的阳极膜中的氧化铅的半导体性质,合金添加剂砷、锑和铋对t-PbO(四方氧化铝)和o-PbO(斜方氧化铝... 用光电化学电流法研究了铅、铅砷、铅锑和铅铋合金在4.5mol·L-1H2SO4溶液(22℃)中,以0.9V(vs.Hg/Hg2SO4)极化7h而形成的阳极膜中的氧化铅的半导体性质,合金添加剂砷、锑和铋对t-PbO(四方氧化铝)和o-PbO(斜方氧化铝)的禁带宽度没有影响,从量子效率和电位的关系可求Pb,Pb-lat%As(at%表示原子百分比,全文同),Pb-lat%Sb和Sb-lat%Bi上膜中t-Pbo的施主密度(ND)分别为9.3×1015,1.0×1016,3.1×1016和1.3×1017cm-3,平带位分别为-0.20,-0.22,-0.28和-0.08V(vs.Hg/Hg2SO4).比较VA元素砷、锑和铋对上述膜中t-Pbo的ND(从而自由电子密度)和膜中t-Pbo的生长速率的影响,可认为法添加剂砷、锑和铋对阳极膜中t-Pbo的作用符合Hauffe规则. 展开更多
关键词 半导体 阳极 氧化物 ⅤA元素
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紫外发光的半导体Mg_xZn_(1-x)O薄膜制备与性质 被引量:3
2
作者 金艳波 章蓓 +7 位作者 王永忠 陈 晶 张会珍 曹昌其 杨述明 黄春辉 H.Cao R.P.H.Chang 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第z1期45-48,共4页
利用ZnO微晶粉末以化学电泳法成功地在导电玻璃上制备了不同x值的紫外发光的宽禁带氧化物半导体三元化合物MgxZn1-xO薄膜.电子显微镜和X射线衍射研究显示,薄膜由MgxZn1-xO微晶组成,薄膜中微晶大小的分散度比Z... 利用ZnO微晶粉末以化学电泳法成功地在导电玻璃上制备了不同x值的紫外发光的宽禁带氧化物半导体三元化合物MgxZn1-xO薄膜.电子显微镜和X射线衍射研究显示,薄膜由MgxZn1-xO微晶组成,薄膜中微晶大小的分散度比ZnO粉末有所减小,并更具择优取向的趋势.室温下光致发光测量给出,MgxZn1-xO薄膜在小于380nm的紫外波段出现较强的半宽小于20nm的激子性发光峰,而且带边峰的半宽以及带边峰与杂质缺陷峰强度之比均较原始的ZnO粉末有明显改善,表明这种MgxZn1-xO薄膜具有优良的紫外发光特性. 展开更多
关键词 宽禁带半导体薄膜 ii-vi族氧化物半导体 MgxZn1-xO X射线衍射 光致发光.
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欧盟为5G打造Ⅲ-Ⅴ族CMOS技术 被引量:1
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《集成电路应用》 2016年第3期44-44,共1页
欧盟(E.U.)最近启动一项为期三年的“为下一代高性能CMOS SoC技术整合Ⅲ-Ⅴ族纳米半导体”(INSIGHT)研发计划,这项研发经费高达470万美元的计划重点是在标准的互补金属氧化物半导体(CMOS)上整合Ⅲ-Ⅴ族电晶体通道。其最终目的... 欧盟(E.U.)最近启动一项为期三年的“为下一代高性能CMOS SoC技术整合Ⅲ-Ⅴ族纳米半导体”(INSIGHT)研发计划,这项研发经费高达470万美元的计划重点是在标准的互补金属氧化物半导体(CMOS)上整合Ⅲ-Ⅴ族电晶体通道。其最终目的则在于符合未来的5G规格要求,以及瞄准频宽更广、影像解析度更高的雷达系统。 展开更多
关键词 CMOS技术 Ⅲ-Ⅴ 欧盟 互补金属氧化物半导体 技术整合 纳米半导体 规格要求 雷达系统
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ZnCl_2掺杂n型ZnSe的分子束外延生长 被引量:2
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作者 张家奇 杨秋旻 +3 位作者 赵杰 崔利杰 刘超 曾一平 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2012年第6期881-884,共4页
利用分子束外延(MBE)技术,以5N的ZnCl2作为掺杂源,在半绝缘GaAs(001)衬底上异质外延生长ZnSe∶Cl单晶薄膜。研究发现,掺入ZnCl2后,ZnSe外延层的结晶质量和表面形貌与本征ZnSe外延层相比变差,双晶X射线摇摆曲线(DCXRC)的ZnSe(004)衍射峰... 利用分子束外延(MBE)技术,以5N的ZnCl2作为掺杂源,在半绝缘GaAs(001)衬底上异质外延生长ZnSe∶Cl单晶薄膜。研究发现,掺入ZnCl2后,ZnSe外延层的结晶质量和表面形貌与本征ZnSe外延层相比变差,双晶X射线摇摆曲线(DCXRC)的ZnSe(004)衍射峰半峰宽(FWHM)从432arcsec增大到529arcsec,表面均方根粗糙度(RMS)从3.00nm增大到3.70nm。当ZnCl2掺杂源炉的温度为170℃时,ZnSe样品的载流子浓度达到1.238×1019 cm-3,可以满足结型器件制作和隧道结材料设计的要求。 展开更多
关键词 硒化锌 N型掺杂 分子束外延 ii-vi化合物半导体
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ZnSeTe薄膜的分子束外延生长 被引量:1
5
作者 任敬川 刘超 +1 位作者 崔利杰 曾一平 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2016年第6期461-466,共6页
研究了用分子束外延设备在GaAs(001)衬底上异质外延生长ZnSeTe单晶薄膜材料的工艺技术。在VI族元素富集条件下,通过调节Se/Zn束流比,制备了全组分分布(x=0-1)的Zn SexTe1-x单晶薄膜样品。XRD分析结果显示外延生长的ZnSeTe薄膜样品... 研究了用分子束外延设备在GaAs(001)衬底上异质外延生长ZnSeTe单晶薄膜材料的工艺技术。在VI族元素富集条件下,通过调节Se/Zn束流比,制备了全组分分布(x=0-1)的Zn SexTe1-x单晶薄膜样品。XRD分析结果显示外延生长的ZnSeTe薄膜样品呈现出单一的闪锌矿晶体结构。在450和550℃氮气氛保护下对Zn Se0.70Te0.30样品做了快速热退火处理,退火后发现其晶体质量和表面形貌都得到了明显改善:双晶X射线摇摆曲线(DCXRC)(004)衍射峰的半峰宽(FWHM)从0.707 7°降低至0.571 9°,表面均方根粗糙度从2.44 nm降低至1.34 nm。采用点In电极做室温Hall测试的结果显示,本征ZnSeTe薄膜表面In电极之间的电阻值很高,外延薄膜呈现载流子浓度很低的高阻状态。 展开更多
关键词 ZnSeTe 分子束外延(MBE) ii-vi半导体 晶体质量 电学性能
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基于TMD材料的CMOS反相器电路研究现状 被引量:1
6
作者 张璐 张亚东 殷华湘 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2021年第3期185-195,共11页
对目前基于过渡金属硫族化合物(TMD)材料(MoS_(2)、WSe_(2)等)的互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器电路相关研究进行了综述。总结了TMD材料的物理性质、制备方法和基于TMD的场效应晶体管器件的研究进展。对基于TMD的集成电路技术研究进... 对目前基于过渡金属硫族化合物(TMD)材料(MoS_(2)、WSe_(2)等)的互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器电路相关研究进行了综述。总结了TMD材料的物理性质、制备方法和基于TMD的场效应晶体管器件的研究进展。对基于TMD的集成电路技术研究进行了介绍与分析。分别在结构设计、集成工艺、性能优化及电路集成等方面对基于TMD材料的CMOS反相器电路进行了总结与分析。介绍了两种集成结构及对应的工艺流程,详细分析了CMOS反相器电路性能优化的方法。最后指出了目前的关键挑战及未来的发展趋势。 展开更多
关键词 过渡金属硫化合物(TMD) MoS_(2) WSe_(2) 场效应晶体管 互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器
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Cd掺杂Zn0阵列纳米梳子
7
作者 周少敏 《零陵学院学报》 2004年第6期53-57,共5页
作者采用Zn+Cd粉,制得了大量阵列Cd掺杂ZnO纳米梳子。这些纳米梳子通过X-射线衍射仪(XRD)、X-射线光电子能谱仪(XPS)、透射电子显微镜(TEM)、X-射线能量损失谱仪(EDS)、选区电子衍射仪(SAED)及高分辨透射电子显微镜(HRTEM)来分析其形貌... 作者采用Zn+Cd粉,制得了大量阵列Cd掺杂ZnO纳米梳子。这些纳米梳子通过X-射线衍射仪(XRD)、X-射线光电子能谱仪(XPS)、透射电子显微镜(TEM)、X-射线能量损失谱仪(EDS)、选区电子衍射仪(SAED)及高分辨透射电子显微镜(HRTEM)来分析其形貌和宏、微观结构。结果显示这些纳米梳子的臂直径为15-50 nm、臂长为400 nm,它们都有单晶的结构及相应的生长机制为传统的气固生长机制。 展开更多
关键词 ii-vi半导体 Cd掺杂 纳米结构 ZnO阵列
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有色矿综合回收和深度加工创值日最新线索[续一]
8
作者 天澄百川 《金属材料与冶金工程》 CAS 1987年第2期66-68,共3页
锑(之二) 四、锑化物光导电导纤维 1.光导纤维材料 (1)含Sb2O370,PbCl330克分子%的混合物在600—800℃氮气气氛下加热熔化成氧氯化物玻璃。这种玻璃具有便于加工成片或丝的热特性,宜作红外光传导材料。 (2)(Ge0.42S0.58)1-x (... 锑(之二) 四、锑化物光导电导纤维 1.光导纤维材料 (1)含Sb2O370,PbCl330克分子%的混合物在600—800℃氮气气氛下加热熔化成氧氯化物玻璃。这种玻璃具有便于加工成片或丝的热特性,宜作红外光传导材料。 (2)(Ge0.42S0.58)1-x (Sb0.4 S0.6)x类型的硫族化物玻璃,含锑复合卤化物玻璃或两者联合也可作高效率、低光耗的光导纤维材料。 (3)As-Ge-Sb硫族化物玻璃毛细管(外径300—500微米,内径100—300微米),轻巧柔软,用于CO2激光体可见激光传输。 (4)SnO2,Sb2O3,In2O3金属氧化物熔化拉丝,表面涂以有机材料涂层,也是一种光导纤维。 展开更多
关键词 金属氧化物 Sb SNO GAAS 半导体材料 电工材料 综合回收 催化剂 导电纤维 太阳能电池 光生伏打电池 结晶态 激发光 深度加工 线索
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例析“碳族元素 无机非金属材料”的考查方式
9
作者 吴海洋 《数理化学习(高中版)》 2007年第9期49-53,共5页
一、以元素周期表为载体考查对碳族元素性质的递变规律、碳族元素的共性等的掌握情况例1(1)在元素周期表中。
关键词 无机非金属材料 碳酸钠溶液 碳酸氢钠 半导体材料 元素 化学方程式 成盐氧化物 元素周期表 共价化合物 非金属性
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离子注入对ZnTe:O中间带光伏材料的微观结构及光学特性的影响
10
作者 甄康 顾然 +9 位作者 叶建东 顾书林 任芳芳 朱顺明 黄时敏 汤琨 唐东明 杨燚 张荣 郑有炓 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2014年第23期267-273,共7页
II-VI和III-V族高失配合金半导体是新型高效中间带太阳电池的优选材料体系,但中间带的形成及其能带调控等关键问题仍未得到有效解决.采用氧离子注入方式,在非平衡条件下对碲化锌(Zn Te)单晶材料实现了等电子掺杂,深入研究了离子注入对Zn... II-VI和III-V族高失配合金半导体是新型高效中间带太阳电池的优选材料体系,但中间带的形成及其能带调控等关键问题仍未得到有效解决.采用氧离子注入方式,在非平衡条件下对碲化锌(Zn Te)单晶材料实现了等电子掺杂,深入研究了离子注入对Zn Te:O材料的微观结构和光学特性的影响.研究表明:注入合适浓度的氧离子(2.5×1018cm-3)将会形成晶格应变,并诱导1.80 e V(导带下0.45 e V)中间带的产生;而较高浓度(2.5×1020cm-3)的氧离子会导致Zn Te注入层表面非晶化,并增强与锌空位相关的深能级(~1.6 e V)发光.时间分辨光致发光结果显示,离子注入诱导形成的中间带主要是和氧等电子陷阱束缚的局域激子发光有关,载流子衰减寿命较长(129 ps).因此,需要降低晶格紊乱度和合金无序,实现电子局域态向扩展态的转变,从而有效调控中间带能带结构. 展开更多
关键词 中间带 离子注入 高失配合金 ii-vi半导体
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