期刊文献+
共找到9篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
面向IP核测试复用的测试环设计 被引量:8
1
作者 陆思安 严晓浪 +2 位作者 李浩亮 沈海斌 何乐年 《浙江大学学报(工学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期93-97,共5页
提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分... 提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分析了两种典型测试环P1500测试环以及飞利浦TestShell测试环的基础上,提出了一种三态测试环结构.该结构允许共用同一条测试总线的不同IP核直接连接到测试总线上. 展开更多
关键词 ip核测试复用 设计 改进测试环单元 三态测试 系统芯片 半导体制造技术
下载PDF
基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案 被引量:1
2
作者 周俊 张金艺 《上海大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期460-464,471,共6页
随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用IP核测试方法的研究,提出一种基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案.通过对该方案应用于实际项目后... 随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用IP核测试方法的研究,提出一种基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案.通过对该方案应用于实际项目后所产生实验数据的分析,证明这种IP核测试方案能大大降低系统层测试难度,加快系统层设计速度,并能显著提高测试激励效率和可观电路结构测试覆盖率. 展开更多
关键词 SOC ip核测试 Wishbone总线结构 情景式 测试覆盖率 测试激励效率
下载PDF
基于猴群算法的3D NoC IP核测试优化方法 被引量:1
3
作者 许川佩 陈玄 《微电子学与计算机》 北大核心 2019年第1期22-26,31,共6页
如何对三维片上网络(three Dimensional Network-on-Chip,3DNoC)资源内核的测试进行优化以缩短测试时间,提高资源利用率是当前3DNoC测试面临的主要问题之一.本文针对3DNoC IP核测试优化问题,开展TSV位置与IP核测试数据分配方案协同优化... 如何对三维片上网络(three Dimensional Network-on-Chip,3DNoC)资源内核的测试进行优化以缩短测试时间,提高资源利用率是当前3DNoC测试面临的主要问题之一.本文针对3DNoC IP核测试优化问题,开展TSV位置与IP核测试数据分配方案协同优化研究.在带宽、功耗和TSV数量约束下,将TSV位置方案和IP核测试数据分配方案作为寻优变量,采用猴群算法进行寻优.算法通过爬和望跳过程进行局部搜索并结合翻过程在不同领域进行搜索从而找到最优解,加入精英保留策略以确保算法收敛性,使算法搜索结果更为准确.以ITC’02电路为实验对象,实验结果表明,该算法能够有效地优化3DNoC资源分配,缩短测试时间,提高资源利用率. 展开更多
关键词 三维片上网络 ip核测试优化 猴群算法
下载PDF
IP核测试验证技术研究与应用 被引量:4
4
作者 罗斌 《集成电路应用》 2018年第12期19-23,共5页
IP核测试验证的目的在于检测其是否存在功能和时序错误,从而对IP核进行修改,提高产品的可靠性。结合用户设计的IP核测试要求,研究IP核测试验证方案与优化流程、系统性测试优化、自测试及其测试复用和测试集成与优化,以当今高速接口芯片... IP核测试验证的目的在于检测其是否存在功能和时序错误,从而对IP核进行修改,提高产品的可靠性。结合用户设计的IP核测试要求,研究IP核测试验证方案与优化流程、系统性测试优化、自测试及其测试复用和测试集成与优化,以当今高速接口芯片关键测试测试共性问题为例,着重在IP核评测实施上提供具体ATE测试验证方案及流程,通过高速接口芯片实际开发测试的研究和实践,提出经济性、低成本和共性的自动化测试(ATE)解决方案及流程,从成本和效率上符合未来高速接口芯片的测试需求。 展开更多
关键词 集成电路测试 ip核测试验证 测试流程 高速接口ip 协同设计与测试流程
下载PDF
基于IEEE 1500标准的IP核内建自测试设计 被引量:4
5
作者 冷冰 谈恩民 《国外电子测量技术》 2015年第9期75-80,共6页
针对内建自测试(BIST)技术在SoC测试上的应用问题,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法。该方法根据IEEE 1500标准的测试结构和规范研究讨论了测试壳的各个组成单元,实现了测试壳在各种工作模式下的指令操作,并结合BIST的... 针对内建自测试(BIST)技术在SoC测试上的应用问题,提出了一种在IEEE 1500标准下对IP核的BIST设计方法。该方法根据IEEE 1500标准的测试结构和规范研究讨论了测试壳的各个组成单元,实现了测试壳在各种工作模式下的指令操作,并结合BIST的工作原理设计了测试控制器的结构和工作流程。最终以8位超进位加法器为例,在Quartus II环境下对整个测试系统进行了功能验证。验证结果表明,IEEE 1500测试壳可在BIST控制器作用下正确完成指令和数据传输,本设计对IP核的测试功能有效可行。 展开更多
关键词 ip核测试 内建自测试 IEEE 1500标准
下载PDF
SOC嵌入式数字IP核通用测试方法 被引量:6
6
作者 马昕煜 徐瀚洋 王健 《微电子学与计算机》 北大核心 2019年第2期26-30,共5页
本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此... 本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此来提供丰富的IP核测试控制以及观测模式;测试软件兼容符合IEEE1687的测试数据,可做到无需修改测试图形文件即可自动完成测试、提取诊断信息.为了验证本方法的有效性,我们在FPGA上实现并测试了多种异构IP核和大量的同构IP核,在整个测试过程中,该测试方法在保证支持国际主流测试标准、具有较高的测试自动化程度的同时,利用其通用性简化了数字IP核的测试集成和复用过程. 展开更多
关键词 IEEE1500 IEEE1687 ip核测试 RAM
下载PDF
IP软核的测试技术研究
7
作者 国海欣 《电脑编程技巧与维护》 2003年第8期40-41,45,共3页
随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。开发IP核成为SOC的重要设计手段。同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战。本文重点描述了IP的测试... 随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。开发IP核成为SOC的重要设计手段。同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战。本文重点描述了IP的测试技术,证明了文献[1]中给出的伪穷举法。并以可编程8255并行I/O接口芯片为例说明了使用伪穷举法进行了IP核校验的方法。 展开更多
关键词 ip VHDL ip核测试 8255 伪穷举法
下载PDF
SOC测试时间与测试功耗协同优化 被引量:5
8
作者 汪滢 许东宁 《微计算机信息》 2009年第32期27-29,共3页
本文针对具有柔性结构的SoC总线测试系统,将面向TAM总线的测试时间与测试功耗优化问题转化为SoC测试矩形排样问题,并针对SoC测试的具体情况,提出了"时间区间-空闲带宽"排样算法和双矩形排样算法。同时,利用单亲遗传算法将SoC... 本文针对具有柔性结构的SoC总线测试系统,将面向TAM总线的测试时间与测试功耗优化问题转化为SoC测试矩形排样问题,并针对SoC测试的具体情况,提出了"时间区间-空闲带宽"排样算法和双矩形排样算法。同时,利用单亲遗传算法将SoC测试矩形排样问题转化为排列问题,并用"时间区间-空闲带宽"排样算法和双矩形排样算法将排列转化为相应的排样图,之后将单亲遗传算法应用到SoC测试矩形排样问题中,解决了测试时间与测试功耗协同优化问题。 展开更多
关键词 遗传算法 测试存取机制(TAM) ip核测试时间 测试功耗
下载PDF
Design of IP core for IIC bus controller based on FPGA 被引量:1
9
作者 黄晓敏 张志杰 《Journal of Measurement Science and Instrumentation》 CAS CSCD 2015年第1期13-18,共6页
The intellectual property (IP) core for inter-integrated circuit (IIC) bus controller is designed using finite state machine (FSM) based on field programmable gate array (FPGA). Not only the data from AT 24C02... The intellectual property (IP) core for inter-integrated circuit (IIC) bus controller is designed using finite state machine (FSM) based on field programmable gate array (FPGA). Not only the data from AT 24C02C can be read automatically after power on, but also the data from upper computer can be written into AT24C02C immediately under the control of the IIC bus controller. When it is applied to blast wave overpressure test system, the IIC bus controller can read and store working parameters automatically. In a laboratory environment, the IP core simulation is carried out and the result is accurate. In the explosion field test, by analyzing the obtained valid data, it can be concluded that the designed IP core has good reliability. 展开更多
关键词 field programmable gate array (FPGA) IIC bus intellectual property(ip core test system
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部