ISOCS无源刻度软件在准直器屏蔽厚度设计中的应用

准直器设计不仅需要考虑准直器的空间分辨率、灵敏度等因素,而且需要考虑准直器屏蔽厚度对"阴影区"的影响。建立了一种准直器屏蔽厚度的优化设计方法,该方法使用ISOCS无源刻度软件计算了探测器在佩带张角30,°屏蔽厚度分别为5、10、15 cm的准直器的角响应曲线和对无穷大面源在不同角度范围内计数率贡献的百分比。结果表明,当准直器屏蔽厚度为5 cm时,方位角90°处γ射线仍然对探测器存在计数率贡献;准直器屏蔽厚度为15 cm时,探测器视野范围可得到有效控制。该方法不仅可以为准直器屏蔽厚度设计提供依据,同时可以作为准直器探测器的效率刻度和不确定度评定的参考。

ISOCS无源效率刻度在就地测量中的准确性检验

通过实验检验了ISOCS无源效率刻度在就地测量中的准确性。对于饱和圆柱体模型,ISOCS刻度效率与实测效率在低、中、高能量区的偏差分别小于7%、5%和3%。对于不饱和墙体,通过ISOCS效率刻度计算所得核素活度与实验室采样测量结果在低、中、高能量区的偏差分别小于13%、3%和2%。结果表明,ISOCS无源效率刻度方法在一定偏差范围内是可接受的。

国产无源效率刻度软件在HPGe γ谱仪上应用及评价

介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况。实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果进行对比。比较发现,点源效率刻度上两者偏差为-0.08%-5.64%,体源效率刻度上两者偏差为3.95%-16.94%,均在可接受的范围内。实验表明：该软件用于HPGe探测系统进行效率刻度是可行的,可作为实验室γ能谱分析的辅助工具。

无源效率刻度技术研究进展及应用概况

介绍了HPGe探测器无源效率刻度技术的研究进展及国内外应用概况,简单描述无源效率刻度软件ISOCS和LabSOCS的原理及验证工作,讨论了有源效率刻度和无源效率刻度的优缺点,最后提出无源效率刻度方法是一种快速、准确的刻度方法。

ISOCS在铀同位素丰度比测量中的应用

本文介绍了应用就地计数系统(ISOCS)测量235U和238U丰度比的方法。该方法使用基于蒙特卡罗原理的无源效率刻度软件对235U和238U子体234mPa进行效率刻度,采用平衡铀测定方法计算出235U和238U的原子比。使用该方法对某一铀样品进行了分析,其测量结果与质谱法测量结果的相对偏差为2.2%。

便携式γ谱仪ISOCS无源效率刻度方法的研究

目的通过对便携式HPGeγ谱仪无源效率刻度结果的准确性验证为核事故现场应急测量结果的可靠性提供依据。方法采用ISOCS无源效率刻度系统方法对三种环境标准源样品,气溶胶滤膜、液体样和生物样进行验证实验。结果便携式HPGeγ谱仪对人工核素的测量结果是可接受的,尤其对高能核素的测量准确度较高。结论无源效率刻度法可用于核事故应急现场对简单体源模型的活度测量。

提高大气气溶胶放射性分析灵敏度的研究

目的:提高涉核事件监测现场便携式空气采样器监测气溶胶的灵敏度。方法:采用多台便携式空气采样器并联采样,利用无源效率刻度技术对γ能谱进行刻度的测量分析方法。结果:并联采样后单位时间内,采样体积成倍增加,核素的最小可探测活度浓度明显下降。结论:采用多台便携式空气采样器并联的采样和测量分析方法,可显著提高可疑核事件的监测灵敏度。

积分中值定理在放射性氙样品γ谱效率刻度技术中的应用

在实验室HPGe探测器测量分析氙气样品过程中需要用到相对方法进行分析,然而由于放射性氙同位素半衰期较短,制作相应的标准气体比较难,给谱仪系统刻度带来困难.针对该问题,提出使用混合面源模拟刻度四种氙同位素气体源的效率,并提出将积分中值定理应用到面源刻度实验过程,大大简化了中间流程,提高了测量的准确性.利用氙分离纯化系统在高氡环境下采集样品,获得了天然放射性133Xe气体γ谱,通过计算得到其活度浓度.积分中值位置处的混合面源刻度结果和气体源刻度结果一致,说明本文提出的面源刻度技术及积分中值定理的思想在HPGe探测器效率刻度测量分析中是有效可行的.