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IXRF法用于航空发动机磨损在线监测的研究
被引量:
1
1
作者
袁梅
吕俊芳
+1 位作者
陈行禄
张江平
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期153-155,共3页
介绍了一种基于同位素X射线荧光法 (IXRF法 )的航空发动机磨损在线监测系统 .航空发动机滑油中携带了大量的金属磨损屑末 ,利用不同金属释放出不同特征X射线的原理 ,可以检测出滑油中不同种类金属的成份及含量 .此种方法具有快速、可靠...
介绍了一种基于同位素X射线荧光法 (IXRF法 )的航空发动机磨损在线监测系统 .航空发动机滑油中携带了大量的金属磨损屑末 ,利用不同金属释放出不同特征X射线的原理 ,可以检测出滑油中不同种类金属的成份及含量 .此种方法具有快速、可靠、非接触等特点 .实验结果表明 ,在线监测系统能够实时地检测出滑油中的铜、铁浓度 .该项技术的研究和应用 ,可以对发动机的磨损故障进行早期预报 。
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关键词
航空发动机
在线监测系统
磨损
ixrf
润滑系统
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职称材料
X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展
被引量:
21
2
作者
周国兴
赵恩好
+1 位作者
岳明新
曹丹红
《当代化工》
CAS
2013年第8期1169-1172,共4页
按照获得和分辨特征X射线荧光光谱的方式,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)两大类。依照这一分类,论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整...
按照获得和分辨特征X射线荧光光谱的方式,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)两大类。依照这一分类,论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展,仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进,在这一基础上,仪器可分析元素的含量范围得到了拓展,方法也得到了丰富。目前,X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法,对这些新方法作以介绍,同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。
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关键词
波长色散X射线荧光光谱仪
能量色散X射线荧光光谱
微区面分布的元素成像分析
高级次谱线分析方法
薄膜分析方法
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职称材料
波长色散X射线荧光分析的新发展
被引量:
3
3
作者
安国玉
《现代科学仪器》
2006年第5期28-30,共3页
论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难...
论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法(F P法)目前发展状况的介绍。
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关键词
波长色散X射线荧光分析
微区面分布的元素成像分析
高级次谱线分析方法
薄膜分析
无标样分析的基本参数法
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职称材料
题名
IXRF法用于航空发动机磨损在线监测的研究
被引量:
1
1
作者
袁梅
吕俊芳
陈行禄
张江平
机构
北京航空航天大学自动控制系
出处
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期153-155,共3页
基金
航空科学基金资助项目!(95I51028)
文摘
介绍了一种基于同位素X射线荧光法 (IXRF法 )的航空发动机磨损在线监测系统 .航空发动机滑油中携带了大量的金属磨损屑末 ,利用不同金属释放出不同特征X射线的原理 ,可以检测出滑油中不同种类金属的成份及含量 .此种方法具有快速、可靠、非接触等特点 .实验结果表明 ,在线监测系统能够实时地检测出滑油中的铜、铁浓度 .该项技术的研究和应用 ,可以对发动机的磨损故障进行早期预报 。
关键词
航空发动机
在线监测系统
磨损
ixrf
润滑系统
Keywords
aircraft engines
on line
wears
isotope applications
oil system
分类号
V233.4 [航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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职称材料
题名
X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展
被引量:
21
2
作者
周国兴
赵恩好
岳明新
曹丹红
机构
沈阳地质矿产研究所
出处
《当代化工》
CAS
2013年第8期1169-1172,共4页
文摘
按照获得和分辨特征X射线荧光光谱的方式,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)两大类。依照这一分类,论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展,仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进,在这一基础上,仪器可分析元素的含量范围得到了拓展,方法也得到了丰富。目前,X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法,对这些新方法作以介绍,同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。
关键词
波长色散X射线荧光光谱仪
能量色散X射线荧光光谱
微区面分布的元素成像分析
高级次谱线分析方法
薄膜分析方法
Keywords
Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer(WDXRF)
Energy dispersive X-ray fluorescence spectrum(EDXRF)
Micro-area elemental distribution image analysis(image-XRF
ixrf
)
Senior time spectrum line analysis method
Thin film analysis method
分类号
O657 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
波长色散X射线荧光分析的新发展
被引量:
3
3
作者
安国玉
机构
岛津(香港)有限公司北京代表处
出处
《现代科学仪器》
2006年第5期28-30,共3页
文摘
论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法(F P法)目前发展状况的介绍。
关键词
波长色散X射线荧光分析
微区面分布的元素成像分析
高级次谱线分析方法
薄膜分析
无标样分析的基本参数法
Keywords
Wavelength dispersive X-ray fluorescence (WD-XRF)
Micro-area elemental distribution image analysis(image-XRF,
ixrf
)
high order spectrum analysis method
thin film analysis
fundamental parameter (FP) method which quantitative analysis without standard sam
分类号
TH744 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
IXRF法用于航空发动机磨损在线监测的研究
袁梅
吕俊芳
陈行禄
张江平
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
1
下载PDF
职称材料
2
X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展
周国兴
赵恩好
岳明新
曹丹红
《当代化工》
CAS
2013
21
下载PDF
职称材料
3
波长色散X射线荧光分析的新发展
安国玉
《现代科学仪器》
2006
3
下载PDF
职称材料
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