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注Sb/Bi氧化锡薄膜化学结构
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作者 朱永法 曹立礼 R.G.Egdell 《真空科学与技术》 CSCD 1994年第5期345-349,共5页
运用俄歇化学效应和XPS研究了高能离子注入的Sb/Bi元素在氧化锡气敏膜中的存在形式。结果表明氧化锡薄膜在注入Sb后,Sb和SnOx物相产生相互作用形成了SbySnOx物种,该物种提高了气敏薄膜的导电性能。氧化锡薄膜高能离子注入Bi后,Bi并... 运用俄歇化学效应和XPS研究了高能离子注入的Sb/Bi元素在氧化锡气敏膜中的存在形式。结果表明氧化锡薄膜在注入Sb后,Sb和SnOx物相产生相互作用形成了SbySnOx物种,该物种提高了气敏薄膜的导电性能。氧化锡薄膜高能离子注入Bi后,Bi并没有和SnOx相发生作用,而仍以金属Bi和Bi2O3两种物相存在。金属Bi的存在可以提高薄膜的导电性能以及提高对CO的气敏选择特性。 展开更多
关键词 注入 俄歇化学效应 导电性能 气敏膜
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