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InGaAsP/InP Double Quantum Well Intermixing Induced by Phosphorus Ion Implantation 被引量:2
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作者 CHEN Jie ZHAO Jie +1 位作者 WANG Yong-chen HAN De-jun 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2005年第4期217-220,共4页
A quantum well intermixing(QW1) investigation on double quantum well(DQW) structure with two different emitting wavelength caused by phosphorus ion implantation and following rapid thermal annealing (RTA) was ca... A quantum well intermixing(QW1) investigation on double quantum well(DQW) structure with two different emitting wavelength caused by phosphorus ion implantation and following rapid thermal annealing (RTA) was carried out by means of photoluminescence(PL). The ion implantation was performed at the energy of 120 keV with the dose ranging from 1 × 10^11cm^-2 to 1× 10^14cm^-2. The RTA was performed at the temperature of 700 ℃ for 30 s under pure nitrogen protection. The PL measurement implied that the band gap blue-shift from the upper well increases with the ion dose faster than that from lower well and the PL peaks from both QWs remained well separated under the lower dose implantation(-1 × 10^11cm^-2) indicating that the implant vacancy distribution affects the QWl. When the ion dose is over - 1 × 10^12cm^-2, the band gap blue-shift from both wells increases with the ion dose and finally the two peaks merge together as one peak indicating the ion implantation caused a total intermixing of both quantum wells. 展开更多
关键词 Ion implantation l ingaasp/inp double quantum well(DQW) Quantum well intermixing
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EBSD在InGaAsP/InP异质结构弹性应力区域的研究 被引量:1
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作者 范丽霞 卢卓宇 +2 位作者 任峰 薄昌忠 付强 《武汉理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2007年第E01期39-41,共3页
利用扫描电镜附件电子背散射衍射(Electron Backscattering Diffraction,EBSD)技术,用菊池花样质量(IQ)作为应力敏感参数,研究了InGaAsP/InP异质结构缓冲层和外延层界面处的应力分布。
关键词 电子背散射衍射(EBSD) 弹性应力区域 菊池花样质量(1Q) ingaasp/inp异质结构
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在InGaAsP/InP双异质结构中的光弹效应及其对侧向光的限制作用
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作者 邢启江 徐万劲 武作兵 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第7期846-852,共7页
从理论上计算了厚度为 110 nm的 W0 .95 Ni0 .0 5 金属薄膜应变条在 In Ga As P/ In P双异质结构中形成的应力场分布 ,及由应力场分布引起的折射率变化 .在 W0 .95 Ni0 .0 5 金属薄膜应变条下半导体中 0 .2— 2μm深度范围内 ,由应变引... 从理论上计算了厚度为 110 nm的 W0 .95 Ni0 .0 5 金属薄膜应变条在 In Ga As P/ In P双异质结构中形成的应力场分布 ,及由应力场分布引起的折射率变化 .在 W0 .95 Ni0 .0 5 金属薄膜应变条下半导体中 0 .2— 2μm深度范围内 ,由应变引起条形波导轴中央的介电常数 ε相应增加 2 .3× 10 - 1— 2 .2× 10 - 2 (2 μm应变条宽 )和 1.2× 10 - 1— 4.1× 10 - 2(4μm应变条宽 ) .同时 ,测量了由 W0 .95 Ni0 .0 5 金属薄膜应变条所形成的 In Ga As P/ In P双异质结光弹效应波导结构导波的近场光模分布 .从理论计算和实验结果两方面证实了 In Ga As P/ In 展开更多
关键词 侧向光 光弹效应 ingaasp/inp双异质结构 半导体材料
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InGaAsP/InP双异质结发光管中的深能级
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作者 张桂成 吴征 《电子科学学刊》 CSCD 1989年第5期557-560,共4页
本文用DLTS谱仪研究了SiO_2限制的InGaAsP/InP双异质结发光管中的深能级。结果表明:只有在p-n结位于p-InP/n-InGaAsP界面处的个别器件中,有△E=0.24eV的多子陷阱。
关键词 发光管 导质结发光管 ingaasp/inp
全文增补中
InGaAsP单量子阱半导体微盘激光器研究 被引量:5
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作者 章蓓 王若鹏 +4 位作者 丁晓民 杨志坚 戴伦 崔晓明 王舒民 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1995年第4期253-256,共4页
利用普通的液相外延和微加工技术成功地制备了InGaAsP单量子阱微盘激光器,并从实验上观测到远低于普遍激光器阈值条件下的单模振荡,证实了微盘激光器中微盘很强的模式选择作用,反映了微盘的微腔特征.
关键词 微盘激光器 半导体激光器 量子阱 异质结 铟镓磷
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在n—InP(100)衬底上低温液相外延生长1.55μm GaInAsP双异质结构层的研究
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作者 邢启江 王舒民 +2 位作者 陈娓兮 章蓓 王若鹏 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1990年第4期324-328,332,共6页
在590℃温度下,不使用1.3μm GaInAsP 防回熔层,直接在 n-InP(100)衬底上液相外延生长出1.55μm InP/GaInAsP/InP 双异质结构外延片。对这种外延片的生长情况及其特性和 InP 衬底的热损伤情况,本文作了详细的分析和讨论。
关键词 GAINASP 异质结构 液相外延 n-inp
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