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同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件样品中^(149)Sm和^(150)Sm含量
被引量：
3
1
作者
李思林
高淑琴
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
1992年第2期19-27,共9页
本文描述用同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件中^(149)Sm和^(150)Sm含量的方法步骤,研究了^(149)Sm、^(150)Sm沿反应堆元件的轴向分布规律。
关键词
同位素稀释
质谱法
辐照元件
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职称材料
题名
同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件样品中^(149)Sm和^(150)Sm含量
被引量：
3
1
作者
李思林
高淑琴
机构
中国原子能科学研究院
出处
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
1992年第2期19-27,共9页
文摘
本文描述用同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件中^(149)Sm和^(150)Sm含量的方法步骤,研究了^(149)Sm、^(150)Sm沿反应堆元件的轴向分布规律。
关键词
同位素稀释
质谱法
辐照元件
Keywords
^
^
isotope dilution
,
mass spectromctry
, ^(
149
)
sm
, ^(
150
)
sm
分类号
TL352.28 [核科学技术—核技术及应用]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件样品中^(149)Sm和^(150)Sm含量
李思林
高淑琴
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
1992
3
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