在Teradyne J750上的测试程序调试

由于Teradyne J750测试系统测试速度快,为节省机时,也顺应测试行业的发展,越来越多的程序开始在Teradyne J750测试平台上开发。下面以82C52芯片为例,介绍了在TeradyneJ750测试系统上测试程序的开发。

基于J750EX测试系统的SDRAM测试技术研究

SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory,同步动态随机存储器)以其卓越的性能、低廉的价格得到了广泛的应用,但由于此类器件具有容量较大(通常为百兆级及以上)、对其实施控制较复杂等特点,使得SDRAM的测试也存在较高难度,因此,探索SDRAM的测试技术,并创建该类器件的测试平台也具有十分重要的意义。首先介绍了SDRAM的基本工作原理,其次详细阐述了基于J750EX测试系统的测试技术研究,提出了采用J750EX系统的DSIO资源实现SDRAM地址累加生成的方法,大大减少了测试矢量长度,可以有效节省测试开发时间,降低测试成本。另外,针对SDRAM的关键时序参数,如tRCD(行选通周期)、CL(读取潜伏期)、tWR(写回时间)等,使用测试系统为器件施加适当的控制激励,完成SDRAM复杂的时序配合,从而达到器件性能的测试要求。

基于J750的SRAM测试程序开发和调试

本文介绍了基于J750测试系统开发SRAM存储器测试程序的过程,详细的阐述了用C++语言生成存储器功能矢量图的方法。

J750到BC3192测试程序转换方法

由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。

基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性(Non-Volatile)特点,在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛。但由于此类器件在线编程及擦除操作较繁琐,从而使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高难度。因此,探索NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以MICRON公司的PC28F00AM29EW为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX测试系统的DSIO模块结合FLASH分块操作的测试方法,从而能够更简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。

基于J750的MCU芯片测试程序开发与调试

Teradyne J750测试系统功能强大、测试精度高,是全球装机量最大的自动测试设备。以一款MCU芯片的晶圆级测试为例,主要阐述了其在美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统上的测试方案开发与实现。介绍了J750测试系统的主要特点,开展晶圆级测试开发的一般步骤:包括测试设备评估、测试适配器加工、离线程序编写、在线测试程序调试等。程序部分主要关注功能项和频率计数测试,对调试异常情况进行研究等。通过开展16site并完成整枚晶圆的测试,根据探针台生成的Map文件,可以查看到该圆片的批号、片号、测试坐标及对应管芯的测试结果表征值,即Bin值。

基于J750测试系统的HS3282发送功能测试

主要阐述了使用美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统测试HS3282协议芯片发送功能的具体方法。详细论述了J750测试系统的主要特点,开发、调试HS3282发送功能的一般步骤,给出了具体的接口电路、测试程序,介绍了测试中可能出现的问题以及调试方法。

J750测试系统稳定性分析

J750测试系统是一种超大规模逻辑及存储器件测试系统。本文通过一系列的数据采集,同时应用统计学的分析方法,借助于Minitab统计分析软件,分别对采集到的数据进行了分析,从而得到测试系统的一些性能参数,进而可以分析出测试系统的稳定性。通过这一系列分析后,可以找到影响生产率的各种因素,大大提高测试系统的工作效率,缩短产品的复测时间,提高良品率,提高测试的准确率,进而提高生产率。

基于J750EX的多时序看门狗测试方法

该文针对多时序看门狗电路的基本功能和时间参数,总结了看门狗关键参数的测试方法,使用J750EX测试系统的DSIO模块,以MAX6822-XX看门狗电路为例,使用单个模块测得多个不稳定的时间参数,解决了以往看门狗无法精确测量多个周期的问题,同时使用单个测试向量,极大地缩短了测试时间。

UVPROM(紫外线可擦除只读存储器)的测试及老炼

本文以SMJ27C512-15JM为示例,详细介绍了UVPROM的测试与老炼的相关内容,并且着重对UVPROM测试程序的开发以及UVPROM老炼的应力选择做了详细的讲解,为UVPROM的测试程序开发以及老炼提供了一种实现思路。

敦煌写卷1.0.J 750中的没卢·墀玛蕾相关问题研究

文章以没卢氏家族有关文献为引证资料,分析敦煌文献1.0.J 750中没卢·墀玛蕾相关的历史事件,认为该文献中的赞穆塘玛轮(btsn mo khri mo In)和没卢·塌玛蕾(vbro bzv khri ma lod)为同一人。同时,解读了没卢·墀玛蕾让赞普兄长拉跋布被迫引退的具体原因。

用于微控制器晶片测试的探针卡

本文以使用TeradyneJ750测试机测试独立内核的微控制器晶片时所用的探针卡设计为例,通过对微控制器内部各个部件的工作和测试原理的分析,总结了此类探针卡设计的一般原则。

模数转换器测试方法研究

模数转换器（ADC）测试时需要同时测量模拟和数字两种信号，在实现上具有一定的难度，运用柱形图法和快速傅里叶变换法可分别实现ADC的静态参数和动态参数测试。运用该方法在J750测试系统上对12位ADC电路TLC2543的进行了测试开发，实际运行情况表明，这种ADC测试方法易于实现，可广泛应用于各类ADC器件的测试。

提高通用IC测试系统瞬态大电流测试可靠性的研究

对瞬态大电流的参数进行测试,实质上就是测试桥式驱动集成电路的MOSFET短路电流持续时间。现有的测试手段无法在IC测试系统上实现可靠的全参数测试。鉴于此,以现有的IC测试系统为平台,特别是依托国产IC测试系统,尝试解决瞬态大电流参数测试结果的可靠性问题,实现桥式驱动集成电路自动化、全参数的测试,最终提高集成电路测试结果的准确性和可靠性。

测试平台数据比对及相关问题分析

在芯片产业链中,芯片测试环节是不可或缺的,是对芯片产品质量检验的重要手段之一。为了满足测试产能的需要,受各种因素影响,往往需要在不同测试平台进行产能扩展的活动,开发对应的测试程序。在芯片测试程序开发完成之后,需要对测试平台移植进行风险评估,也就是工程批实验,根据实验结果判断是否可以进行后续量产。通过对一款芯片在T2000和J750两种测试平台的测试数据进行分析,深入了解测试平台移植过程中,如何对开发结果进行评价,并在对测试数据进行详细比对和差异化问题分析过程中,从不同角度阐述测试数据的一致性和重复性问题。

半导体芯片测试成本降低方案

随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台(v50)实现高成本测试平台(J750)的功能,进而实现测试成本的降低。

可编程逻辑电路在线编程技术研究与实现

本文提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的可编程逻辑器件在线测试方法。通过以Teradyne J750HD为平台,以ALTERA的MAX7000和LATTICE的MachXO2系列芯片为研究对象,解决了可编程逻辑器件的在线测试技术。其中核心技术包括JTAG边界扫描技术的解析、满足ATE测试的DUT的专用测试板硬件端口设计,ATE测试向量生成工具设计。在线测试不仅具有测试效率高、可移植性强、故障覆盖率高、通用性好的优点,对于量产筛选测试具有实际应用意义。

基于温度参数转换电路的设计与实现

当科技制造水平越来越高,温度不仅仅作为一个反映周围环境冷热程度的数值,而是更多地参与到了人们的研制和生产中去。在许多设备、整机、武装系统中都需要考虑到温度这个参数,并根据温度来进行相应的运算或调节,但是温度参数在一些情况下是不能直接应用的,需要将它转换成其他形式合适的参数或信号。基于某整机系统中专用的高精度温度转换器进行设计和制造。讨论高精度温度转换器的设计原理和设计制造过程,并对设计要点进行说明。

通过ECID实现在半导体测试过程中剔除潜在问题芯片

本文介绍了如何应用ECI D信息,通过VB代码尽早将潜在问题芯片剔除,从而降低半导体测试成本并提高测试效率的方法。

IC测试过程中电源优化处理方法

本文针对芯片测试过程中存在的芯片电源信号质量问题,介绍了通过示波器和基于泰瑞达J750测试机台,对芯片测试过程中的电源信号进行优化,从而提高了测试过程中的良品率。