基于J750EX测试系统的SDRAM测试技术研究

SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory,同步动态随机存储器)以其卓越的性能、低廉的价格得到了广泛的应用,但由于此类器件具有容量较大(通常为百兆级及以上)、对其实施控制较复杂等特点,使得SDRAM的测试也存在较高难度,因此,探索SDRAM的测试技术,并创建该类器件的测试平台也具有十分重要的意义。首先介绍了SDRAM的基本工作原理,其次详细阐述了基于J750EX测试系统的测试技术研究,提出了采用J750EX系统的DSIO资源实现SDRAM地址累加生成的方法,大大减少了测试矢量长度,可以有效节省测试开发时间,降低测试成本。另外,针对SDRAM的关键时序参数,如tRCD(行选通周期)、CL(读取潜伏期)、tWR(写回时间)等,使用测试系统为器件施加适当的控制激励,完成SDRAM复杂的时序配合,从而达到器件性能的测试要求。

基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性(Non-Volatile)特点,在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛。但由于此类器件在线编程及擦除操作较繁琐,从而使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高难度。因此,探索NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以MICRON公司的PC28F00AM29EW为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX测试系统的DSIO模块结合FLASH分块操作的测试方法,从而能够更简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。

基于J750EX的多时序看门狗测试方法

该文针对多时序看门狗电路的基本功能和时间参数,总结了看门狗关键参数的测试方法,使用J750EX测试系统的DSIO模块,以MAX6822-XX看门狗电路为例,使用单个模块测得多个不稳定的时间参数,解决了以往看门狗无法精确测量多个周期的问题,同时使用单个测试向量,极大地缩短了测试时间。