JET优化剪切等离子体中强弱内热垒的杂质输运

介绍了JET优化剪切等离子体中低电荷杂质和高电荷杂质粒种的粒子输运分析的结果，等离子体中心的杂质含量对内输运垒强度是敏感的，在强输运垒等离子体中，中心的扩散系数比弱输运垒等离子体中的扩散系数低一个数量级，在等离子体中心杂质输运接近于新经典输运预言，而在等离子体边缘它比新经典理论值高得多，为了解释这些测量结果，在输运垒附近需要一个对流项，这些数据支持E×B剪切率抑制湍流的理论。

JET中优化剪切放电的MHD稳定性

对JET优化剪切（OS）放电性能的主要限制是由MHD不稳定性引起的，主要以破裂极限形式出现。观察到作为破裂前兆的MHO模的结构，如从SXR和ECE诊断中测出的那样，表现为全域理想MHD模。测出的模结构与计算出的压力驱动扭曲模的模结合完全一致。破裂出现在较低的规范化β（1＜βN＜2）处，与计算出的n＝1压力驱动扭曲模的理想MHD稳定性极限一致，通常包括良性的、线性调频脉冲模。这些模出现于频率改变的爆裂中，具有与破裂前兆一样的模结构，但被快粒子驱动成不稳定的。