LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现

文章介绍了基于 IEEE1149.1协议的 LS－ JTAG边界扫描测试系统的设计和实现。系统以 LS－ JTAG主控器为核心，可以实现对支持协议的 VLSI、 PCB、 MCM和其它数字系统进行边界扫描测试。