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LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现
被引量:
2
1
作者
陈小铁
沈绪榜
+2 位作者
赵冰茹
王忠
陈朝阳
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第2期38-41,共4页
文章介绍了基于 IEEE1149.1协议的 LS- JTAG边界扫描测试系统的设计和实现。系统以 LS- JTAG主控器为核心,可以实现对支持协议的 VLSI、 PCB、 MCM和其它数字系统进行边界扫描测试。
关键词
集成电路
KS-
jtag
边界扫描测试系统
PCB
单片机
PC机
下载PDF
职称材料
题名
LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现
被引量:
2
1
作者
陈小铁
沈绪榜
赵冰茹
王忠
陈朝阳
机构
西安微电子技术研究所
华中科技大学图象所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第2期38-41,共4页
文摘
文章介绍了基于 IEEE1149.1协议的 LS- JTAG边界扫描测试系统的设计和实现。系统以 LS- JTAG主控器为核心,可以实现对支持协议的 VLSI、 PCB、 MCM和其它数字系统进行边界扫描测试。
关键词
集成电路
KS-
jtag
边界扫描测试系统
PCB
单片机
PC机
Keywords
jtag boundary- scan test
,
ieee1149.1 standard
,
master- control device
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
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1
LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现
陈小铁
沈绪榜
赵冰茹
王忠
陈朝阳
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001
2
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