基于功能的SoC可测试性设计及系统级调试

可测试性设计技术是SoC设计中的一个重要技术。在设计8位SoC系统芯片时,不仅考虑到可测试性设计,而且还利用OCI模块上的JTAG接口。可以方便地与板级系统相结合,能够快速对芯片进行功能验证和系统调试,大大缩短产品的上市时间。