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可测试性设计的JTAG方法 被引量：1
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作者 沈绪榜 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 1991年第1期10-18,共9页
本文将从边界扫描路径,测试体系结构,测试状态定义,测试指令安排与板级测试策略五个方面,介绍VLSI电路可测试性设计的JTAG方式.
关键词 VLSI 集成电路 可测试性 jtag法
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