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基于边界扫描技术的TAP接口研究 被引量:4
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作者 王让定 叶富乐 杜呈透 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期139-141,共3页
边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法。该文在研究边界 扫描体系结构和TAP接口控制器的基础上,在一个测试系统中,实现了基于JTAG规范的主TA P 接口设计。
关键词 可测试性设计 边界扫描 jtag规范 TAP接口 LVSI 超大规模集成电路
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基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究
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作者 王让定 杜呈透 叶富乐 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2003年第7期111-113,152,共4页
现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试... 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。 展开更多
关键词 微处理器 嵌入式处理器 边界扫描技术 测试方法 计算机 jtag规范 逻辑电路
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