基于BST技术的ASIC设计

专用集成电路 (ASIC)的测试需要设计一个专用测试集 ,测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC ,其测试过程简便快捷 ,不需要复杂和昂贵的测试设备 ,可降低成本 ,提高产品质量。