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混合信号总线测试实例
1
作者
雷加
李正光
《世界产品与技术》
2003年第12期72-74,共3页
混合信号电路(Mixed-signalCircuits)广泛应用于通信、多媒体、工业电子和消费类电子产品中。其测试方法有很多,其中基于边界扫描技术的混合信号测试总线已越来越受欢迎。在定义混合信号测试总线时,要求不仅能够测试桥接故障、开路故障...
混合信号电路(Mixed-signalCircuits)广泛应用于通信、多媒体、工业电子和消费类电子产品中。其测试方法有很多,其中基于边界扫描技术的混合信号测试总线已越来越受欢迎。在定义混合信号测试总线时,要求不仅能够测试桥接故障、开路故障、对模拟元件值进行测试,而且还要能够与IEEE1149.1兼容。为此,IEEE半导体工业协会(SA)标准委员会于1999年6月批准了建立混合信号测试总线标准的1149.4文件。
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关键词
边界扫描
混合信号总线
IEEE1149.4
klic芯片
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职称材料
题名
混合信号总线测试实例
1
作者
雷加
李正光
机构
桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
怀化学院物理系应用物理教研室
出处
《世界产品与技术》
2003年第12期72-74,共3页
文摘
混合信号电路(Mixed-signalCircuits)广泛应用于通信、多媒体、工业电子和消费类电子产品中。其测试方法有很多,其中基于边界扫描技术的混合信号测试总线已越来越受欢迎。在定义混合信号测试总线时,要求不仅能够测试桥接故障、开路故障、对模拟元件值进行测试,而且还要能够与IEEE1149.1兼容。为此,IEEE半导体工业协会(SA)标准委员会于1999年6月批准了建立混合信号测试总线标准的1149.4文件。
关键词
边界扫描
混合信号总线
IEEE1149.4
klic芯片
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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出处
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1
混合信号总线测试实例
雷加
李正光
《世界产品与技术》
2003
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