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Kevex SIGMA^TM定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用
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作者 孔明光 《电脑应用技术》 2003年第56期33-36,共4页
本文介绍了X—Ray能谱定性分析的原理,并结合Kevex SIGMA系统,详细介绍了定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用。
关键词 电子光学仪器 KevexSIGMA^TM 定性X-Ray显微分析工具 SDP
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