液晶T-CON板信号完整性设计

信号完整性（SI）是高速电路设计面临的一个主要问题。本文对50MHz以上高速信号的信号完整性问题从原理上进行了详细分析,并针对损耗、串扰、反射等因素提出了信号完整性设计验证方法。从液晶T-CON中LVDS信号探索出一套利用HyperLynx工具进行仿真分析和设计验证的方法,即利用前仿真工具LineSim对影响信号完整性的主要参数进行评估,形成设计指导数据来辅助后续设计;利用后仿真工具BoardSim对布线后的高速T-CON进行验证,从理论上提供了液晶T-CON中高速信号LVDS在Layout设计中的可靠依据。