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PMMA-Based Microsphere Mask for Sub-wavelength Photolithography 被引量:1
1
作者 Wenhe Feng Yin Chi Wan Xincai Wang 《Nanomanufacturing and Metrology》 2020年第3期199-204,共6页
The authors present a polymethyl methacrylate(PMMA)-based,reusable microsphere mask used in the laser sub-wavelength photolithography.In order to overcome the diffraction limit to achieve nano-structuring using l-|im ... The authors present a polymethyl methacrylate(PMMA)-based,reusable microsphere mask used in the laser sub-wavelength photolithography.In order to overcome the diffraction limit to achieve nano-structuring using l-|im laser wavelength,the photolithography technique was conventionally characterized by applying a one-off monolayer of silica microspheres serving as Mie scatterers.Addressing the major limitation of this technique,which was that the monolayer of microspheres must be prepared on the sample surface prior to fabrication,the proposed hot press approach could firmly fuse the 1silica microspheres to the PMMA base without the use of adhesives.The PMMA-based microsphere mask could hence reduce the amount of work for the monolayer preparation and was proven reusable for at least 20 times without damage to top or bottom surfaces.Using the mask,dimples that were 0.7 pm in diameter and 40 nm in depth were produced on tool steel by a single pulse of picosecond laser irradiation. 展开更多
关键词 Ultrafast laser Microspheres Mie-scattering photolithography mask Micro/nano-fabrication process
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激光直写方法制作透明导电金属网栅 被引量:11
2
作者 李凤友 卢振武 +4 位作者 谢永军 曹召良 高劲松 孙连春 赵晶丽 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1270-1272,共3页
介绍了利用激光直写光刻技术在 2 0 0mm× 2 0 0mm基片上制作线宽为 5 μm ,周期为35 0 μm的红外透明导电金属网栅的工艺过程 ,对激光直写光刻技术和机械刻划掩模接触光刻制作金属网栅结构的两种方法进行了比较 。
关键词 透明导电金属网栅 激光直写光刻 掩模 电磁屏蔽 制作方法
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直角坐标和极坐标系一体的激光直写设备(英文) 被引量:13
3
作者 李凤友 卢振武 +1 位作者 谢永军 张殿文 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第5期616-619,共4页
介绍了具有直角坐标和极坐标写入系统的激光直写设备 。
关键词 直角坐标 极坐标 激光直写设备 衍射光学元件 计算全息图 光刻 写入系统
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无铬相移掩模光刻技术 被引量:5
4
作者 冯伯儒 陈宝钦 《光子学报》 EI CAS CSCD 1996年第4期328-332,共5页
本文论述了相移掩模(PSM)提高光刻分辨率的基本原理、主要类型、无铬 PSM 的制作方法,简述了曝光实验和实验结果.用 NA=0.28的 g 线光刻机得到了0.5μm的实际分辨率.
关键词 相移掩膜 无铬 光刻技术 大规模集成电路
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用相移掩模光刻技术制作大相对孔径二元透镜的研究 被引量:1
5
作者 周静 黄婉云 陈宝钦 《北京师范大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1995年第3期348-352,共5页
简述相移掩模的基本原理,提出了用相移掩模光刻技术制作大相对孔径的二元透镜的设想。通过数值模拟对相移掩模光刻技术做了探讨,给出了适合国内g-线光刻机的相移掩模的设计参数。
关键词 相移掩模 光刻 透镜 二元透镜 制造
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边缘相移掩模技术 被引量:5
6
作者 陈宝钦 《光电工程》 CAS CSCD 1997年第S1期13-18,共6页
论述了边缘相移掩模的原理、制作方法和工艺步骤,并给出了一些实验结果。
关键词 光刻 相移掩模 边缘增强
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光刻技术及其极限和发展前景 被引量:4
7
作者 冯伯儒 《光电工程》 CAS CSCD 1994年第2期57-64,共8页
介绍了一些新的光刻技术及光刻技术的极限和发展前景。
关键词 光刻 极限分辨率 掩模 照明控制 集成电路
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激光直写技术的研究现状及其进展 被引量:11
8
作者 徐兵 魏国军 陈林森 《光电子技术与信息》 2004年第6期1-5,共5页
介绍了激光直写技术的最新发展现状,系统的功能、结构和工作方式,对当前该系统存在的一些问题进行了归纳分析,探讨了系统的应用范围和今后的发展方向。
关键词 激光直写 二元光学元件 光刻 空间光调制器 光变图像
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i线光学光刻技术及其发展潜力 被引量:1
9
作者 孙再吉 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1999年第4期438-447,共10页
综述和分析了i线光学光刻技术的现状和发展。指出结合移相掩模技术和离轴照明技术,可在确保焦深的基础上大幅度提高成像分辨率。
关键词 i线光学光刻 移相掩模 半导体器件 微细加工
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The Variables and Invariants in the Evolution of Logic Optical Lithography Process 被引量:2
10
作者 Qiang Wu 《Journal of Microelectronic Manufacturing》 2019年第1期1-12,共12页
Photolithography has been a major enabler for the continuous shrink of the semiconductor manufacturing design rules.Throughout the years of the development of the photolithography,many new technologies have been inven... Photolithography has been a major enabler for the continuous shrink of the semiconductor manufacturing design rules.Throughout the years of the development of the photolithography,many new technologies have been invented and successfully implemented,such as image projection lithography,chemically amplified photoresist,phase shifting mask,optical proximity modeling and correction,etc.From 0.25μm technology to the current 7 nm technology,the linewidth has been shrunk from 250 nm to about 20 nm,or 12.5 times.Although imaging resolution is proportional to the illumination wavelength,with the new technologies,the wavelength has only been shrunk from 248 nm to 134.7 nm(193 nm immersion in water),less than 2 times.Would it mean that the imaging performance has been continuously declining?Or we have yet fully utilized the potential of the photolithography technology?In this paper,we will present a study on the key parameters and process window performance of the image projection photolithography from 0.25μm node to the current 7 nm node. 展开更多
关键词 image projection photolithography imaging contrast exposure LATITUDE mask error factor LINEWIDTH uniformity chemically amplified photoresist phase shifting mask OPTICAL proximity correction and photoacid diffusion length
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一种简单的衰减相移掩模
11
作者 张锦 冯伯儒 +6 位作者 侯德胜 周崇喜 姚汉民 郭永康 陈芬 孙方 苏平 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2000年第3期64-64,66,共2页
:本文介绍了一种与传统Cr掩模制作工艺相兼容的单层衰减相移掩模的结构、原理和制作方法 ,提供了部分实验结果。
关键词 光刻 衰减相移掩模 相移器 单层材料
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用灰阶编码掩模进行邻近效应校正的实验研究
12
作者 杜惊雷 粟敬钦 +2 位作者 张怡霄 郭永康 崔铮 《微细加工技术》 EI 2000年第2期39-44,共6页
利用灰阶编码掩模实现光学邻近效应精细校正是改善光刻图形质量的有效方法 ,设计并利用电子束直写系统加工了用于实现邻近效应校正的灰阶编码掩模 ,首次在投影光刻系统上用这一方法实现了光学邻近效应校正 ,获得了满意的实验结果 ,在可... 利用灰阶编码掩模实现光学邻近效应精细校正是改善光刻图形质量的有效方法 ,设计并利用电子束直写系统加工了用于实现邻近效应校正的灰阶编码掩模 ,首次在投影光刻系统上用这一方法实现了光学邻近效应校正 ,获得了满意的实验结果 ,在可加工 0 7微米的I线曝光装置上获得了经邻近效应校正的 0 5微米光刻线条。 展开更多
关键词 灰阶编码掩模 光学邻近效应校正 光学光刻
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动态目标发生器圆鼓图形光刻掩模板的研制
13
作者 付永启 刘怀道 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 1996年第1期29-32,共4页
本文详细论述了动态目标发生器圆鼓图形光学刻划掩模板的设计思想及其制作过程,经试刻效果良好.为非球面光刻掩模板的制作开创了一条新途径。
关键词 动态目标发生器 掩模板 光刻
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用光致抗蚀剂膜层制作衰减相移掩模
14
作者 侯德胜 冯伯儒 +1 位作者 孙方 张锦 《微细加工技术》 2001年第2期6-8,34,共4页
提出一种用光致抗蚀剂膜层制作单层结构衰减相移掩模的新方法 ,介绍这种方法的原理和制作工艺 ,并给出这种方法制作的衰减相移掩模用于准分子激光光刻实验 ,得到显著提高光刻分辨力的实验结果。
关键词 光致抗蚀剂 衰减相移掩模 分辨力 光刻
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用激光直写制作光束整形元件的实验研究
15
作者 徐兵 王雪辉 +1 位作者 陈林森 魏国军 《光电子技术与信息》 2004年第5期58-61,共4页
利用迭代傅里叶算法优化得到了特定衍射图样的位相结构,分析讨论了采用单光束激光直写系统进行逐点光刻制作2个台阶二元光学元件位相掩模的基本原理,并给出了实验结果和实验误差分析,从而为发展一种制作周期短、成本低,且无对准误差的... 利用迭代傅里叶算法优化得到了特定衍射图样的位相结构,分析讨论了采用单光束激光直写系统进行逐点光刻制作2个台阶二元光学元件位相掩模的基本原理,并给出了实验结果和实验误差分析,从而为发展一种制作周期短、成本低,且无对准误差的二元光学元件的制作方法提供了一种可能。 展开更多
关键词 迭代傅里叶算法 激光直写 光束整形 二元光学元件 光刻
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激光光刻与相移掩模
16
作者 路敦武 《微细加工技术》 1991年第2期57-61,共5页
本文评述了激光光刻可能采取的方式及其待解决的问题,并对相移掩模技术作了概要的介绍。
关键词 激光光刻 相移掩模 集成电路
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用于T形栅光刻的新型移相掩模技术 被引量:2
17
作者 韩安云 王育中 +5 位作者 王维军 张 倩 田振文 樊照田 陈宝钦 崔 铮 《微纳电子技术》 CAS 2002年第5期37-40,共4页
根据移相掩模基本原理,通过光刻工艺模拟提出了一种适于T形栅光刻的新型移相掩模技术——M-PEL。初步实验证明,M-PEL技术可在单层厚胶上经一次光刻形成理想的T形栅抗蚀剂形貌。
关键词 光学光刻 移相掩模 T形栅 M-PEL
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PECVD淀积Si_3N_4作为光刻掩膜版的保护膜 被引量:2
18
作者 张晓情 李沛林 +1 位作者 王敬松 杨建红 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第11期1096-1098,共3页
采用等离子增强化学汽相淀积(PECVD)方法淀积Si3N4薄膜作为光刻掩膜版的保护膜,可以降低掩膜版受损程度,延长使用寿命。分析了Si3N4膜厚的选取要求,给出了PECVD淀积Si3N4膜的工艺条件。实际制作了带有Si3N4保护的光刻掩膜版,并与不带Si... 采用等离子增强化学汽相淀积(PECVD)方法淀积Si3N4薄膜作为光刻掩膜版的保护膜,可以降低掩膜版受损程度,延长使用寿命。分析了Si3N4膜厚的选取要求,给出了PECVD淀积Si3N4膜的工艺条件。实际制作了带有Si3N4保护的光刻掩膜版,并与不带Si3N4保护的掩膜版的使用情况做了对比。结果表明,带有Si3N4保护的光刻掩膜版的使用寿命可明显延长2倍以上。 展开更多
关键词 等离子增强化学气相淀积 氮化硅 光刻版 保护膜
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二元光学元件的制作及其误差分析 被引量:7
19
作者 李思涛 叶嘉雄 +2 位作者 阮玉 徐启阳 郭志霞 《光电子技术与信息》 CAS 2000年第5期24-29,共6页
详细介绍了二元光学元件制作的光刻技术和一些新的制作工艺,包括薄膜沉积法、激光束或电子束直接写入法和准分子激光加工法.针对用于CO2激光器模式优化的二元光学反射镜,分析了元件制作误差,包括掩模对准误差、台阶刻蚀深度误差... 详细介绍了二元光学元件制作的光刻技术和一些新的制作工艺,包括薄膜沉积法、激光束或电子束直接写入法和准分子激光加工法.针对用于CO2激光器模式优化的二元光学反射镜,分析了元件制作误差,包括掩模对准误差、台阶刻蚀深度误差和台阶刻蚀宽度误差对谐振腔振荡模式的影响. 展开更多
关键词 二元光学元件 光刻 掩模 误差 微电子
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石英音叉微细加工若干问题探讨 被引量:4
20
作者 唐琼 崔芳 +1 位作者 廖兴才 孙雨南 《微细加工技术》 2004年第2期66-71,共6页
采用基于半导体工艺的光刻、化学腐蚀等微细加工方法在石英晶体基片上批量制作石英音叉。化学腐蚀石英音叉时,叉指的一个侧面中央有棱角,腐蚀速率先慢后快有利于棱角的消除,但去掉棱角的主要方法是增加腐蚀时间;实验探索了能够耐受长时... 采用基于半导体工艺的光刻、化学腐蚀等微细加工方法在石英晶体基片上批量制作石英音叉。化学腐蚀石英音叉时,叉指的一个侧面中央有棱角,腐蚀速率先慢后快有利于棱角的消除,但去掉棱角的主要方法是增加腐蚀时间;实验探索了能够耐受长时间腐蚀液浸泡的Cr/Au掩模的制作方法和工艺,成功地腐蚀出石英音叉样品;选用黑白反相的十字套准标记进行石英音叉图形的双面光刻套准可以减小人为对准误差,腐蚀出的双面音叉图形的套准精度可小于3μm。石英晶体结构的三角对称性和Cr/Au掩模的耐腐蚀性是限制微细加工制作石英音叉达到理想形状的关键。 展开更多
关键词 石英音叉 Cr/Au掩模 双面光刻 化学腐蚀
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