基于LED吸顶灯寿命的优化设计

针对LED灯具寿命受温度影响的问题,提出了一种较为完善的优化设计方法。通过对影响LED灯具寿命因素进行分析,指出温度是影响LED灯具寿命的关键。重点分析引起MOSFET发热严重的原因,并提出切实可行的优化方案,即对LED芯片串并联方式进行优化设计,并进行了试验。实验结果表明,通过改变LED芯片排列方式,可有效地将MOSFET的温度降低10℃左右,证明了该优化设计的可行性。

LED加速老化测试进展及失效分析

LED灯具作为新一代光源被广泛应用,但由于其实际寿命远低于理论寿命而被诟病。文章介绍了恒定应力及阶梯应力加速老化测试下的LED寿命研究进展,及对LED灯具的失效分析。