基于蛙跳算法优化SVM的小功率LED寿命预测模型

针对小功率LED失效时间预测需要大量失效数据、预测成本较高的情况,从工程实践的实际需求出发,提出了基于改进蛙跳算法(ISFLA)优化支持向量机(SVM)的小功率LED寿命预测模型。SVM使用径向基核函数(RBF),以小功率LED的可靠度作为SVM输入,失效时间作为输出。为了减小蛙跳算法的计算成本,现引入进化阶段指标T加快收敛速度,并利用ISFLA优化核函数参数的选取,使得仅需少量训练样本即可建立SVM。该模型不仅能预测加速应力下的小功率LED失效时间,也可根据小功率LED在加速应力下的失效时间预测正常应力水平下的寿命。实验证明,在小样本条件下,该方法得到训练结果的相关系数为0.998,检验组误差小于3%,快速简洁地实现了小功率LED高精度寿命预测。

基于LSM的LED寿命的计算与分析

准确地对LED寿命进行估计是十分必要的。通过加速寿命的试验就可以得到产品性能指标和可靠性指标的估计,从而了解产品的质量。其方法则是应用威布尔分布描述红外LED的寿命,采用最小二乘法,估计出威布尔参数,对各应力下的数据拟合直线,实现寿命图,并完成试验数据的统计和分析,算出其平均寿命和可靠寿命。

BN&AlN&SiC/环氧树脂复合材料线膨胀系数对LED寿命的影响

在全球大规模推广使用LED照明的今天,使用寿命是制约LED发展的瓶颈,其中,封装材料的线膨胀系数对大功率LED的使用寿命具有重要的影响。由于大功率LED粘接层材料比其相邻材料的线膨胀系数大,在循环工作时各层之间的膨胀收缩不一致,导致层与层之间产生翘曲裂纹现象,从而影响LED的使用寿命。文中采用向环氧树脂(EP)中分别加入氮化硼(BN)、氮化铝(AlN)、碳化硅(SiC)微粉颗粒制备出3种——BN/EP、AlN/EP、SiC/EP复合材料,并对其进行对比分析。研究结果表明,BN/EP复合材料性能最佳,线膨胀系数可降至3.86×10-5 K-1。且当BN质量分数为55%时,导热系数达到1.598 W/(m·K),粘接强度为53.83 MPa。与纯环氧树脂相比,可使1 W LED芯片结温降低约29.6℃,寿命提高约2.2×104 h。

基于LED吸顶灯寿命的优化设计

针对LED灯具寿命受温度影响的问题,提出了一种较为完善的优化设计方法。通过对影响LED灯具寿命因素进行分析,指出温度是影响LED灯具寿命的关键。重点分析引起MOSFET发热严重的原因,并提出切实可行的优化方案,即对LED芯片串并联方式进行优化设计,并进行了试验。实验结果表明,通过改变LED芯片排列方式,可有效地将MOSFET的温度降低10℃左右,证明了该优化设计的可行性。

LED的寿命,你真正理解了吗?

LED技术起始于半导体行业,却带给照明行业应用上的大发展。作为一个新兴事物,有很多问题都在探索当中。LED一个显著的特点就是超长寿命。但没有确切的试验,这超长寿命是如何得来的?它与传统照明理解的寿命有什么不同吗?本文将从LED寿命这个看似简单的问题作为出发点,来系统的分析和梳理LED元件及系统的寿命问题。通过比较与传统照明的异同点,分析当今最新标准来帮助LED的使用者和系统制造商理解和推导真正的LED的寿命。

白光LED寿命实用快速横评法

针对白光LED品牌的选择,介绍1种实用的白光LED寿命快速横评法。此方法是对市场上大量品牌不同、封装相同的LED加速光衰老化,获得各款LED的光衰曲线。通过横评,照明企业能快速找到性价比最合适的LED品牌和型号,以保证LED照明产品具有良好的质量定位和价格竞争力。

浅谈LED灯具寿命的评估方法

介绍了IES_TM21_11中使用的LED寿命推算法及LED灯具的寿命评估方法。针对LED灯具寿命,可以先评估LED模块寿命,再结合二次光学材料的光衰减值,估算灯具整体的寿命。

LED可靠性寿命模型及应用

发光二极管(LED)被广泛用于室内照明,路灯,广告显示,装饰照明和监视器背光等领域。与传统光源相比,LED光源因其高效率,环保效益,高可靠性和长寿命而吸引了人们的兴趣。对于LED研发人员来说,使用记录故障数据的传统破坏性寿命测试来估计LED的寿命是非常消耗时间以及浪费测试资源的。因此,通过进行短期和具有成本效益的高温老化测试,并结合LED寿命模型来进行推算其应用环境下的使用寿命是有必要的。本文介绍了几种常见的LED寿命推算模型,并以威布尔分布作为寿命模型,结合高温老化实验数据计算了在实际应用环境下的LED寿命。

聚焦正在起草中的LED灯具性能的IEC规范

本文介绍IEC TC34/SC34D正在起草的《灯具性能要求—第2部分:普通照明的LED灯具》公共可用规范。对LED灯具引入了可靠性的要求,LED灯具的制造商不仅要声称光通维持寿命(LX),还要声称失效率(FX)。在提供的光强分布曲线的同时,LED灯具制造商不仅需要提供光效,还要提供相关色温(CCT)和显色指数(CRI)。对于目前国内存在的盲目追求、偏面追求LED灯具光效的观点,LED灯具性能的IEC公共可用规范无疑具有正确的引领作用。

LED加速老化测试进展及失效分析

LED灯具作为新一代光源被广泛应用,但由于其实际寿命远低于理论寿命而被诟病。文章介绍了恒定应力及阶梯应力加速老化测试下的LED寿命研究进展,及对LED灯具的失效分析。

聚焦正在起草中的LED灯具性能的IEC规范

本文介绍IEC TC34／SC34D正在起草的《灯具性能要求-第2部分：普通照明的LED灯具》公共可用规范。对LED灯具引入了可靠性的要求，LED灯具的制造商不仅要声称光通维持寿命（LX），还要声称失效率（FX）。在提供的光强分布曲线的同时，LED灯具制造商不仅需要提供光效，还要提供相关色温（CCT）和显色指数（CRI）。对于目前国内存存的盲目追求、偏面追求LED灯具光效的观点，LED灯具性能的IEC公共可用规范无疑具有正确的引领作用。

创新封装提高LED的光输出、寿命和可靠性

HB—LED的效能也许会广受宣扬，但封装却是该市场中值得注意的方面。从晶粒中获得光，让它经过密封剂和透镜，以均匀可靠的颜色照射到应用目标的表面，并保持很长的寿命，这的确是一项挑战。LED制造商通过为这些器件采用创新封装来完成这项任务。HB—LED用户也许并未意识到：四大制造商Cree、Nichia、

浅析LED光谱衰减的评估模型

要科学地进行LED光谱衰减和颜色变化的评估,确保LED使用的可靠性,不仅需要建立预测模型,而且需要保证一定的试验时间。对目前报道过的基于LED电流加速老化实验引起的光谱衰减的几种预测模型进行了介绍,并就其局限性做了分析。同时,对已报道过的用威布尔分布函数预测功率型LED的光通维持的结果进行了探讨。

基于穷举-粒子群算法的大功率LED四热阻模型研究

针对目前LED寿命难以准确评估的问题,从LED热阻出发,将穷举法(Exhaustive Attack method,EAM)和粒子群算法(particle swarm optimization,PSO)相结合,提出了基于穷举-粒子群算法的大功率LED四热阻模型。建立了LED的四热阻模型和系统约束条件,实现了LED热阻系统满足LED计算结温与实际结温差最小的优化目标。实验结果表明:EAM-PSO算法能有效解决LED四热阻计算问题,与LED两热阻模型算法比较,EAM-PSO算法能够更加准确的评估LED寿命。

新版TM-21算法介绍和算法改进方案讨论

文章针对LED的流明维持寿命,介绍了北美照明学会发布的基于LM-80数据预测LED的流明维持寿命的算法标准TM-21的最近3个版本,比较和分析不同版本提供的算法差异对LED的流明维持寿命计算的影响。介绍了基于TM-21算法计算LED分布寿命的原理,提出了笔者认为更实用的TM-21算法改进方案,指出LED器件的寿命与LED照明产品寿命之间的关系。为广大照明厂商计算和评估LED照明产品的寿命提供指引。