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局部区域描绘子和SOM聚类算法在LED管芯计数中的应用
被引量:
1
1
作者
唐亮
刘烨
陈雁秋
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2012年第10期11-13,21,共4页
传统的图像处理算法往往受到光照干扰、角度变化、噪声等因素的影响,无法得到准确快速的识别结果。提出一种新颖的局部区域描绘子刻画目标点群的灰度值特征,并结合自组织映射SOM聚类,对发光二极管(LED)芯片中的管芯区域进行高效识别和...
传统的图像处理算法往往受到光照干扰、角度变化、噪声等因素的影响,无法得到准确快速的识别结果。提出一种新颖的局部区域描绘子刻画目标点群的灰度值特征,并结合自组织映射SOM聚类,对发光二极管(LED)芯片中的管芯区域进行高效识别和准确计数。实验结果表明,该方法能够对LED管芯进行有效的识别计数,准确度高、鲁棒性好。
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关键词
局部区域描绘子
SOM聚类
led管芯计数
过检测策略
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职称材料
题名
局部区域描绘子和SOM聚类算法在LED管芯计数中的应用
被引量:
1
1
作者
唐亮
刘烨
陈雁秋
机构
复旦大学计算机科学技术学院
出处
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2012年第10期11-13,21,共4页
基金
国家自然科学基金项目(611750 36)
上海市教育委员会科研创新基金项目(10ZZ03)
上海市重点学科建设基金项目(B114)
文摘
传统的图像处理算法往往受到光照干扰、角度变化、噪声等因素的影响,无法得到准确快速的识别结果。提出一种新颖的局部区域描绘子刻画目标点群的灰度值特征,并结合自组织映射SOM聚类,对发光二极管(LED)芯片中的管芯区域进行高效识别和准确计数。实验结果表明,该方法能够对LED管芯进行有效的识别计数,准确度高、鲁棒性好。
关键词
局部区域描绘子
SOM聚类
led管芯计数
过检测策略
Keywords
Local region descriptors SOM clustering
led
die counting Over-detection strategy
分类号
TP391.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
局部区域描绘子和SOM聚类算法在LED管芯计数中的应用
唐亮
刘烨
陈雁秋
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2012
1
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