用光谱学方法研究不同放电等离子体粒子约束

本文用光谱学方法研究在HL-1装置上LHCD及ECRH等离子体、弹丸注入等离子体、偏压电极与偏压孔栏等离子体放电的粒子约束特性.结果表明,在弹丸注入及使用正向偏压电极与偏压孔栏期间,等离子体粒子约束得到改善.较低密度下(n(?)<2.0×10^(13)cm^(-3)),LHCD脉冲期间粒子约束得到改善;而当密度n.大于2.0×10^(13)cm^(-3)时.等离子体约束变坏.ECRH脉冲期间粒子约束得不到改善.