基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案设计

集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案。该方案具备可操作性强的优点,只需要配合平台搭接简单的测试电路,然后使用C语言编写测试程序就能快速的将一个型号芯片的引脚开短路问题测试出来,并将结果反馈至上位机,使用户能够直观地判别被测芯片的好坏。

基于LK8810平台的数字芯片性能测试

为提高芯片性能可靠性,提出了基于LK8810平台的数字芯片性能的测试方法,并基于LK8810测试机在平台上对典型数字芯片SN74LS08芯片进行系统化测试,对SN74LS08芯片的功能、关键参数进行了测试和研究,通过软硬件联调,结合芯片技术参数标准,提高测试结果的精准性。

基于LK8810平台的集成电路电参数测试方法设计与实现

阐述以LK8810作为测试平台,以74HC595为例,采用施加电流激励以测量电压的方法,为提高测量精度,输出采用开尔文连接的方式,根据所搭建的测量电路,利用测试专用函数编写程序实现对芯片输出高低电平上下限电参数的测试,测试结果可在上位机上显示。实验表明,该测试方案准确可靠,易于实施,可为数字芯片性能判断和缺陷分析提供可靠的数据依据。

基于LK8810S平台的集成运算放大电路模拟参数测试研究

集成电路测试产业近年来得到了快速发展,已成为集成电路产业链的重要环节。文章基于LK8810S测试平台,采用C语言编写测试代码控制待测电路的输入激励并采集电路的输出信号,能快速地实现集成运算放大器的3种主要参数测试,并将结果显示在上位机。实验结果表明测试结果数据在正常范围内,且缩短了测试时间。

基于LK8810S平台的DAC数字芯片的性能评估及研究

随着集成电路技术的快速发展,数字芯片集成度的提高,数字芯片引脚数量及高速信号种类的增多,对于高性能数字芯片的测试验证分析难度越来越大。文章基于当前数字芯片的测试技术在平台上的测试验证需求,依据DAC芯片的参数测试的原理和方法,以DAC0808为例,通过设计硬件电路和软件测试两方面结合的方式,对关键参数及芯片功能进行基于LK8810S平台测试系统的测试研究,可以提高测试结果的准确性。

集成电路芯片的成品测试方案研究

随着人们对集成电路品质的重视,集成电路测试业正成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业,其中封装测试是产品出厂前的最后测试,就是确保可以交付给客户良好质量的产品。基于集成电路测试平台LK8810S,以74HC138为例,通过低成本的成品测试方案,可筛选芯片、进行功能验证,同时保证测试过程的稳定性和准确性,对于降低集成电路制造成本、保障芯片可靠性有一定的积极作用。