基于LK8810S平台的DAC数字芯片的性能评估及研究

随着集成电路技术的快速发展,数字芯片集成度的提高,数字芯片引脚数量及高速信号种类的增多,对于高性能数字芯片的测试验证分析难度越来越大。文章基于当前数字芯片的测试技术在平台上的测试验证需求,依据DAC芯片的参数测试的原理和方法,以DAC0808为例,通过设计硬件电路和软件测试两方面结合的方式,对关键参数及芯片功能进行基于LK8810S平台测试系统的测试研究,可以提高测试结果的准确性。

基于LK8810S平台的集成运算放大电路模拟参数测试研究

集成电路测试产业近年来得到了快速发展,已成为集成电路产业链的重要环节。文章基于LK8810S测试平台,采用C语言编写测试代码控制待测电路的输入激励并采集电路的输出信号,能快速地实现集成运算放大器的3种主要参数测试,并将结果显示在上位机。实验结果表明测试结果数据在正常范围内,且缩短了测试时间。

集成电路芯片的成品测试方案研究

随着人们对集成电路品质的重视,集成电路测试业正成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业,其中封装测试是产品出厂前的最后测试,就是确保可以交付给客户良好质量的产品。基于集成电路测试平台LK8810S,以74HC138为例,通过低成本的成品测试方案,可筛选芯片、进行功能验证,同时保证测试过程的稳定性和准确性,对于降低集成电路制造成本、保障芯片可靠性有一定的积极作用。