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LP数学校正模型在陶瓷原料常规元素EDXRF分析中的应用 被引量:4
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作者 张永青 《佛山陶瓷》 1999年第3期7-9,共3页
本文介绍在使用PV9550能量色散X-射线荧光能谱仪测定陶瓷原料中常规元素时,选用LP数学模型进行基体效应校正的方法。经实验证实,该法与化学法测试结果具有良好的一致性,分析的准确度与精确度都能满足生产要求,具有简便、快速、准确... 本文介绍在使用PV9550能量色散X-射线荧光能谱仪测定陶瓷原料中常规元素时,选用LP数学模型进行基体效应校正的方法。经实验证实,该法与化学法测试结果具有良好的一致性,分析的准确度与精确度都能满足生产要求,具有简便、快速、准确的优点。 展开更多
关键词 lp数学校正模型 陶瓷原料 EDXRF PV9550能量色散X-射线荧光能谱仪
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