LSX型体分子筛焙烧与二次晶化试验研究

以低硅铝比X(LSX)粉体、高岭土和LSX型体分子筛为研究对象,利用XRD和TG-DTA等手段对其物相和热稳定性进行了表征,探讨了不同晶化条件对LSX型体分子筛静态水吸附量的影响。研究表明,随着焙烧温度的升高,LSX粉体的结晶性遭到破坏,高岭土逐渐转化为偏高岭土。LSX型体分子筛的最佳焙烧温度为600℃,在二次晶化温度为95℃、晶化时间为5 h、氢氧化钠浓度为2 mol/L时,LSX型体分子筛的最佳静态水吸附量达到了33.5%。