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X射线粉末衍射法测定LaFe_9Si_4的晶体结构 被引量:3
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作者 唐为华 梁敬魁 刘泉林 《自然科学进展(国家重点实验室通讯)》 1997年第5期537-543,共7页
采用LaFe_9Si_4的X射线粉末衍射数据,介绍利用Fullprof程序进行全谱拟合,提取独立的|F_(hkl)|数据,然后将获得的|F_(hkl)|数据输入标准的单晶结构分析程序SHELXS-86和SHLEXS-93确定晶体结构的一般步骤。
关键词 X射线粉末衍射 晶体结构 lafe9si4
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