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Effect of Fe Particle on the Surface Peeling in Cu-Fe-P Lead Frame 被引量:1
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作者 苏娟华 《Journal of Wuhan University of Technology(Materials Science)》 SCIE EI CAS 2006年第3期18-20,共3页
Under the surface peeling of Cu- Fe- P lead frame alloy larger Fe particles were observed by energy dispersive spectroscopy. By using the large strain two-dinension plane strain model and elastic plastic finite elemen... Under the surface peeling of Cu- Fe- P lead frame alloy larger Fe particles were observed by energy dispersive spectroscopy. By using the large strain two-dinension plane strain model and elastic plastic finite element method, the cause for peeling damage of Cu-Fe-P lead frame aUoy was investigated. The results show that when the content of Fe particles is more than 30% at local Fe-rich area the intense stress coacentration in the Fe particle would make the Fe particle broken up. The high equivalent stress mutation and the mismatch of equivalent strain 10% at the two sides of intefrace make it easy to develop the crack and peeling damage on finish rolling. The larger Fe particles in the Cu-Fe-P alloy should be avoided. 展开更多
关键词 Cu-Fe-P lead frame surface peeling equivalent Stress equivalent strain
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PRECIPITATION BEHAVIOR IN A Cu-Sn-Ni-Zn-P LEAD FRAME MATERIAL
2
作者 W.H.Tian C.K.Yan M.Nemoto 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 2003年第3期155-160,共6页
Transmission electron microscopy (TEM) observations were carried out for examining the precipitation behavior in a Cu-Sn-Ni-Zn-P lead frame material. TEM observations revealed that the precipitate is hexagonal Ni5P2 a... Transmission electron microscopy (TEM) observations were carried out for examining the precipitation behavior in a Cu-Sn-Ni-Zn-P lead frame material. TEM observations revealed that the precipitate is hexagonal Ni5P2 and the orientation relationship between the Cu matrix and Ni$Pi precipitate is (111)fcc//(0001)hcp, [101]fcc//[1120]hcp, where the suffix fcc denotes the Cu matrix and hep denotes the hexagonal Ni5P2 precipitate. The Ni5P2 precipitate is ovoidal in shape at the beginning of aging at lower temperature. By prolonging the aging time or increasing the aging temperature, Ni5P2 precipitate grows and shows a rod-like shape. The Ni added Cu based lead frame material has a comparative mechanical properties with that of TAMAC15 which has been developed and used in electrical industry. 展开更多
关键词 lead frame materials mechanical properties atom diffusion PRECIPITATE transmission electron microscopy
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The study on the rough surface of KFC copper strip applied to lead frame
3
作者 黄国杰 谢水生 程镇康 《广东有色金属学报》 2005年第2期574-577,共4页
In the paper, the rough surface of KFC copper strip applied to lead frame was studied and analyzed. The method of energy spectrum analysis, SEM and metallographic analysis are adopted to study and analyze. To compare ... In the paper, the rough surface of KFC copper strip applied to lead frame was studied and analyzed. The method of energy spectrum analysis, SEM and metallographic analysis are adopted to study and analyze. To compare the component of the rough surface of KFC copper strip with one of the normal copper strip, the component abnormity is not found. But to observe its microstructure of the rough surface, there are thinner and regular dimpling in the surface before the polishing, and bigger crystal grains are found after the polishing. The coarse structure vanished when the sample is heated higher than 700℃. It is shown that current annealing technique is not reasonable and should be improved and optimized. 展开更多
关键词 合金 退火工艺 热处理
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引线框架用高性能铜合金板带材及制备工艺
4
作者 梁海成 高博伦 +2 位作者 王松伟 刘劲松 邓偲瀛 《铜业工程》 CAS 2024年第2期45-53,共9页
电子信息产业的飞速发展,对铜及铜合金产品性能提出了更高的要求,其中集成电路封装用引线框架材料代表了铜合金板带材发展的较高水平。本文对近年来引线框架用高性能铜合金板带材及制备工艺进行了综述,介绍了国内外高性能铜合金板带材... 电子信息产业的飞速发展,对铜及铜合金产品性能提出了更高的要求,其中集成电路封装用引线框架材料代表了铜合金板带材发展的较高水平。本文对近年来引线框架用高性能铜合金板带材及制备工艺进行了综述,介绍了国内外高性能铜合金板带材料的成分和制备加工技术及发展过程,并对其未来发展趋势进行了展望,提出未来高性能铜板带材性能将朝着抗拉强度为700 MPa、导电率为70%IACS的目标发展,其制备工艺将向着智能化、绿色化、高效化等方向发展。 展开更多
关键词 集成电路 铜合金 板带材 引线框架 生产工艺
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高性能Cu-Ni-Si系合金研究现状及发展趋势
5
作者 刘军 曹祎程 +3 位作者 米绪军 解浩峰 米振莉 彭丽军 《铜业工程》 CAS 2024年第3期152-162,共11页
先进铜基材料具有广阔的市场及良好的发展前景。相比于Cu-Be, Cu-Fe-P, Cu-Cr等合金而言,Cu-Ni-Si系合金具有高强度、较高的导电率、良好的抗高温软化、抗应力松弛性能及低廉的价格等优点,广泛应用于机械制造、航空航天、交通运输、电... 先进铜基材料具有广阔的市场及良好的发展前景。相比于Cu-Be, Cu-Fe-P, Cu-Cr等合金而言,Cu-Ni-Si系合金具有高强度、较高的导电率、良好的抗高温软化、抗应力松弛性能及低廉的价格等优点,广泛应用于机械制造、航空航天、交通运输、电子和电气工程等工业领域。本文首先介绍了Cu-Ni-Si系合金的发展现状,并从产品性能及产业化方面论述了国内外存在的差异。该合金发展趋势主要是朝着先进高强高导弹性铜合金方向发展,核心挑战是在提升强度的同时保持甚至提高导电性能,并且由于服役环境的复杂化及服役时间的延长,对于材料服役性能的可靠稳定性也提出了更为严苛的要求。最后从成分设计、加工及形变热处理工艺、时效析出行为、服役性能等方面综述了CuNi-Si系合金的研究现状,并针对目前该材料存在的不足,展望了高强度高导电铜合金的未来发展趋势。 展开更多
关键词 Cu-Ni-Si系合金 铜合金 高强高导 引线框架 发展趋势
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线性霍尔磁传感芯片用引线框架设计 被引量:1
6
作者 叶明盛 时亚南 +1 位作者 李菊萍 侯晓伟 《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2024年第2期124-126,共3页
线性霍尔磁传感芯片的金属引线框架部件在待检测磁场中具有聚磁效应和涡流效应,会干扰待测磁场,使磁场强度偏离真实值,导致检测准确度变差。对含磁组分金属框架和不同结构尺寸的框架进行仿真分析后,得出无磁组分材质及小尺寸结构设计可... 线性霍尔磁传感芯片的金属引线框架部件在待检测磁场中具有聚磁效应和涡流效应,会干扰待测磁场,使磁场强度偏离真实值,导致检测准确度变差。对含磁组分金属框架和不同结构尺寸的框架进行仿真分析后,得出无磁组分材质及小尺寸结构设计可改善金属框架对待检测磁场的干扰,并且对小尺寸结构框架的施工方案进行分析。最终制备得到一种线性霍尔磁传感芯片,通过自主搭建的环境对芯片进行测试,得到354.8 kHz的带宽值。 展开更多
关键词 电磁学 引线框架 磁场仿真 涡流效应
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引线框架材料带坯表面蓝斑缺陷浅析
7
作者 万建 《有色金属加工》 CAS 2024年第4期51-54,62,共5页
利用金相显微镜(OM)、扫描电镜(SEM)和能谱分析(EDS),针对Cu-Fe-P系引线框架带坯存在的表面蓝斑缺陷问题,研究了Cu-Fe-P系引线框架带坯表面蓝斑缺陷形成机理,并进行了试验验证。结果表明,蓝斑缺陷产生的主要原因是残留在凹坑内的酸液与... 利用金相显微镜(OM)、扫描电镜(SEM)和能谱分析(EDS),针对Cu-Fe-P系引线框架带坯存在的表面蓝斑缺陷问题,研究了Cu-Fe-P系引线框架带坯表面蓝斑缺陷形成机理,并进行了试验验证。结果表明,蓝斑缺陷产生的主要原因是残留在凹坑内的酸液与CuO反应,生成蓝色的CuSO_(4)·5H_(2)O所致。通过优化熔炼铸造过程、原材料添加工艺、改造部分设备结构等关键控制点,找到了解决Cu-Fe-P系引线框架带坯表面蓝斑问题的方法。 展开更多
关键词 引线框架 铜合金 表面处理 蓝斑 铁富集
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集成电路中引线框架的质量影响分析
8
作者 姚梦雨 李壮壮 《电子质量》 2024年第10期96-100,共5页
引线框架作为集成电路的重要组成部分,其质量直接影响着整个电路的性能和可靠性。对集成电路中引线框架的质量影响进行了分析。首先,介绍了引线框架的基本概念,包括定义、组成和分类等内容;然后,详细地探讨了引线框架的质量要求,包括机... 引线框架作为集成电路的重要组成部分,其质量直接影响着整个电路的性能和可靠性。对集成电路中引线框架的质量影响进行了分析。首先,介绍了引线框架的基本概念,包括定义、组成和分类等内容;然后,详细地探讨了引线框架的质量要求,包括机械性能、电学性能、热性能、抗腐蚀性能和尺寸精度等方面;最后,提出了提高引线框架质量的措施,包括材料选择与优化、设计改进、制造工艺优化、检测与筛选和质量管理体系等方面。深入分析了引线框架对集成电路质量的重要影响,并提出提升引线框架质量的关键方法和策略。 展开更多
关键词 引线框架 集成电路 质量要求 质量提升 措施
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铜基镀银引线框架抗化学腐蚀工艺过程影响研究
9
作者 付永朝 任晨 左元亮 《中国集成电路》 2024年第7期70-75,共6页
铜基镀银引线框架作为半导体封装的主要材料之一,其铜面和镀银区易受空气影响造成化学腐蚀,随着时间的变长,此种化学腐蚀程度会不断增加。由于化学腐蚀过度会造成引线框架表面的可焊性降低,最终造成焊线脱落和封装后分层问题,故铜面和... 铜基镀银引线框架作为半导体封装的主要材料之一,其铜面和镀银区易受空气影响造成化学腐蚀,随着时间的变长,此种化学腐蚀程度会不断增加。由于化学腐蚀过度会造成引线框架表面的可焊性降低,最终造成焊线脱落和封装后分层问题,故铜面和镀银区的表面状态对半导体的可靠性有重要影响。本文介绍了铜基镀银引线框架生产过程中不同电镀工艺和铜保护剂类型的差异性,提出了铜基镀银引线框架生产过程中抗化学腐蚀性实现的关键控制点,为引线框架产品可靠性的提升预防提供数据支持。 展开更多
关键词 引线框架表面 化学腐蚀 镀银方式 铜保护剂
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建筑工业化之装配式钢结构新型防雷技术分析
10
作者 李修锋 《现代建筑电气》 2024年第9期41-45,57,共6页
工业化建造可降低碳排放,节约建材,实现绿色建造,装配化建造迎来快速发展。以某项目为例,分析了屋面接闪器,防雷引下线,接地体,防侧击设计和等电位设置等方面的防雷措施,可有效降低雷击对新型装配式钢结构建筑的损坏,对于新型装配式钢... 工业化建造可降低碳排放,节约建材,实现绿色建造,装配化建造迎来快速发展。以某项目为例,分析了屋面接闪器,防雷引下线,接地体,防侧击设计和等电位设置等方面的防雷措施,可有效降低雷击对新型装配式钢结构建筑的损坏,对于新型装配式钢结构建筑防雷体系的设计和施工具有一定的借鉴意义。 展开更多
关键词 防雷 装配式钢结构 钢框架引下线 电磁感应脉冲
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铜基引线框架电镀铜、银的显微结构及可焊性
11
作者 王锋涛 万海毅 +6 位作者 黄斌 唐世辉 宋佳骏 黄重钦 刘薇 栾道成 查五生 《电镀与涂饰》 CAS 北大核心 2023年第3期50-54,共5页
在自动电镀线上对铜基引线框架表面分别镀铜和镀银。通过扫描电镜(SEM)和能谱(EDS)分析及钎焊试验对比了Cu镀层和Ag镀层的微观形貌、元素分布和焊接性。结果表明,银在引线框架基岛表面具有更好的沉积效果,所得Ag镀层平整光滑,结构致密... 在自动电镀线上对铜基引线框架表面分别镀铜和镀银。通过扫描电镜(SEM)和能谱(EDS)分析及钎焊试验对比了Cu镀层和Ag镀层的微观形貌、元素分布和焊接性。结果表明,银在引线框架基岛表面具有更好的沉积效果,所得Ag镀层平整光滑,结构致密。焊点在Ag镀层表面覆盖直径大于Cu镀层,表现出更好的焊接性。 展开更多
关键词 引线框架 电镀 微观结构 焊接性
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集成电路中的引线框架质量影响分析 被引量:4
12
作者 于国军 田教锋 孙天祥 《集成电路应用》 2023年第7期41-43,共3页
阐述集成电路中的引线框架质量影响,引线框架的作用及性能要求,引线框架加工工艺,探讨铜基合金的对比,C18150强度和导电率符合引线框架的性能要求。通过蚀刻法、冲压法和轧制作为比较发现,引线框架的制作适用轧制加工。
关键词 集成电路制造 封装材料 引线框架 铜基合金
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镀锡层抗高温性能与工艺研究
13
作者 刘德强 周圣丰 《材料保护》 CAS CSCD 2023年第5期148-152,共5页
针对铜基引线框架镀锡层高温易缩锡变色及常温不耐盐水腐蚀等问题,采用了不同电镀工艺,分析了镀层显微形貌、物相结构、抗电化学腐蚀性能与力学性能。结果表明:镀锡前,对铜表面进行充分去氧化及粗化,可极大提高镀锡层结合力,有效防止高... 针对铜基引线框架镀锡层高温易缩锡变色及常温不耐盐水腐蚀等问题,采用了不同电镀工艺,分析了镀层显微形貌、物相结构、抗电化学腐蚀性能与力学性能。结果表明:镀锡前,对铜表面进行充分去氧化及粗化,可极大提高镀锡层结合力,有效防止高温缩锡现象;镀锡后,镀层浸泡抗高温氧化剂,可有效防止高温发黄以及提高耐盐水腐蚀性能。 展开更多
关键词 铜基引线框架 镀锡 电化学腐蚀 抗高温氧化
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一种容性耦合隔离放大器封装结构及其封装方法研究
14
作者 陈媛 《中国集成电路》 2023年第7期83-87,共5页
本文基于容性耦合原理提出了一种隔离放大器封装结构及其封装方法。其基本特点:①在设计中采用塑料封装,且封装结构是双基岛隔离型引线框架,包括相互隔离的左侧基岛及右侧基岛,输入侧及输出侧芯片或片式电子元器件分别位于左侧基岛及右... 本文基于容性耦合原理提出了一种隔离放大器封装结构及其封装方法。其基本特点:①在设计中采用塑料封装,且封装结构是双基岛隔离型引线框架,包括相互隔离的左侧基岛及右侧基岛,输入侧及输出侧芯片或片式电子元器件分别位于左侧基岛及右侧基岛区域。②芯片电容位于两个基岛的靠近区域,片式元器件及芯片电容通过键合丝连接相应电气连接点。由于芯片电容采用具有抗磁干扰能力强的材料,将两片电容互连,即可在隔离通道形成抗电磁干扰能力强的隔离势垒。③本设计将片式元器件、芯片电容和引线框架在结构上组成一个整体,使封装小型化、强功能、低成本、高可靠、易设计及制作。适用于电源、电机控制器、远程电压检测、生物医学测量、远程数据采集等领域。 展开更多
关键词 隔离放大器 容性耦合 双基岛引线框架 隔离势垒
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预埋FBG传感器的CFRP受电弓上框架成型工艺研究
15
作者 王艳娟 丁国平 余熠 《复合材料科学与工程》 CAS 北大核心 2023年第1期107-111,共5页
本文设计了一种预埋FBG传感器的CFRP受电弓上框架,以某铝合金受电弓上框架的形状和结构尺寸为参考,CFRP受电弓上框架采用全碳纤维复合材料,在保证装配尺寸不变的前提下,对结构进行了优化设计。同时结合复合材料成型工艺的特点,对其进行... 本文设计了一种预埋FBG传感器的CFRP受电弓上框架,以某铝合金受电弓上框架的形状和结构尺寸为参考,CFRP受电弓上框架采用全碳纤维复合材料,在保证装配尺寸不变的前提下,对结构进行了优化设计。同时结合复合材料成型工艺的特点,对其进行了铺层设计和成型工艺研究。为获取CFRP受电弓上框架在服役过程中的层间应变信息,根据其设计结构及铺层方案,在制作过程中预埋一定数量的FBG传感器,确定了FBG传感器的布局方式。并对CFRP受电弓上框架预埋FBG传感器的预埋方式和光纤引出保护方式进行研究,选择用塑料套管对表面引出的光纤进行保护,防止光纤损坏。 展开更多
关键词 CFRP受电弓上框架 预埋FBG传感器 成型工艺 光纤引出保护
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铜基引线框架材料的研究与发展 被引量:93
16
作者 马莒生 黄福祥 +3 位作者 黄乐 耿志挺 宁洪龙 韩振宇 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第1期1-4,共4页
引线框架材料是半导体元器件和集成电路封装的主要材料之一,其主要功能为电路连接、散热、机械支撑等。随着IC向高密度、小型化、大功率、低成本方向发展,集成电路I/O数目增多、引脚间距减小,对引线框架材料提出了高强度、高导... 引线框架材料是半导体元器件和集成电路封装的主要材料之一,其主要功能为电路连接、散热、机械支撑等。随着IC向高密度、小型化、大功率、低成本方向发展,集成电路I/O数目增多、引脚间距减小,对引线框架材料提出了高强度、高导电、高导热等多方面性能上的要求。由于拥有良好的导电导热性能,铜合金已成为主要的引线框架材料。本文对电子封装铜合金引线框架材料的性能要求、国内外研究与发展等进行了综述。 展开更多
关键词 引线框架材料 铜合金 电子封装 半导体器件 集成电路
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Cu-Ni-Si基引线框架合金的组织和性能 被引量:30
17
作者 汪黎 孙扬善 +2 位作者 付小琴 薛烽 陈曦 《东南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期729-732,共4页
设计了4种不同成分的引线框架铜合金,通过对比其硬度、强度、导电性以及软化温度等,分析了合金中P,Ni,Si,Cr合金元素对合金各性能的影响.研究结果表明:采用合理的热处理工艺可以使Cu-3Ni-0.6Si基合金在时效过程中析出尺寸在20~40 nm之... 设计了4种不同成分的引线框架铜合金,通过对比其硬度、强度、导电性以及软化温度等,分析了合金中P,Ni,Si,Cr合金元素对合金各性能的影响.研究结果表明:采用合理的热处理工艺可以使Cu-3Ni-0.6Si基合金在时效过程中析出尺寸在20~40 nm之间的δ-Ni2Si颗粒,使合金的强度和导电率达到良好的匹配;微量的P能有效地提高合金的强度、硬度和弹性模量,同时使Ni2Si析出颗粒的弥散度提高,尺寸减小,但会降低合金的导电率;少量的Cr能有效提高合金的强度和软化温度. 展开更多
关键词 引线框架 铜合金 Ni2Si
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Cu-Ni-Si系引线框架用铜合金成分设计 被引量:58
18
作者 曹育文 马莒生 +3 位作者 唐祥云 王碧文 王世民 李红 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第4期723-727,共5页
研究了合金元素对CuNiSi 系列引线框架用铜合金性能的影响。发现合金中时效析出物具有与δNi2Si 相似的晶体结构,Ni 及Si 元素含量对材料硬度和电导率有很大影响。当Ni 及Si 元素含量增大时, 由于析出物数... 研究了合金元素对CuNiSi 系列引线框架用铜合金性能的影响。发现合金中时效析出物具有与δNi2Si 相似的晶体结构,Ni 及Si 元素含量对材料硬度和电导率有很大影响。当Ni 及Si 元素含量增大时, 由于析出物数量增多, 材料硬度增加; 当Ni 与Si 原子数之比小于2 时, 材料电导率明显下降,这是由于过剩Si 元素以固溶原子形式存在, 强烈损害材料电导率的结果。加入Zn 元素后, 保温过程中Zn 元素在合金与SnPb 共晶焊料界面处偏聚, 阻碍脆性金属间化合物层的形成, 在425 K 保温1 000 h后, 铜合金与焊料间结合良好。 展开更多
关键词 引线框架 铜合金 硬度 电导率 钎焊 合金设计
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集成电路用引线框架材料的研究现状与趋势 被引量:44
19
作者 向文永 陈小祝 +3 位作者 匡同春 成晓玲 钟秋生 刘国洪 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期122-125,共4页
作为集成电路中关键的一个组成部分,近年来引线框架得到了极大发展。概述了目前集成电路用引线框架材料的一些研究进展,包括引线框架的功能、制备工艺、成分设计及其对材料的性能要求等,重点介绍了铜基引线框架材料的特性和研发动态,最... 作为集成电路中关键的一个组成部分,近年来引线框架得到了极大发展。概述了目前集成电路用引线框架材料的一些研究进展,包括引线框架的功能、制备工艺、成分设计及其对材料的性能要求等,重点介绍了铜基引线框架材料的特性和研发动态,最后,提出了今后引线框架材料的研究方向。 展开更多
关键词 集成电路 铜合金 引线框架材料
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集成电路用铜基引线框架材料的发展与展望 被引量:18
20
作者 李银华 刘平 +3 位作者 田保红 贾淑果 任凤章 张毅 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第7期24-26,47,共4页
综述了集成电路对铜基引线框架材料的性能要求,指出好的导电导热和强度性能是引线框架材料最主要的性能要求;讨论了铜基引线框架材料的国内外研究现状,指出我国的引线框架材料无论是质量还是数量都与其他工业发达国家有很大的差距,并指... 综述了集成电路对铜基引线框架材料的性能要求,指出好的导电导热和强度性能是引线框架材料最主要的性能要求;讨论了铜基引线框架材料的国内外研究现状,指出我国的引线框架材料无论是质量还是数量都与其他工业发达国家有很大的差距,并指出微合金化铜基材料具有成为高强高导引线框架材料的潜力。 展开更多
关键词 集成电路 铜基引线框架 微合金化 强度 导电率
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