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TFT-LCD一种绿Mura机理分析和改善 被引量:1
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作者 蒋迁 耿晨曦 +2 位作者 刁义林 周鹏 路朝华 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2021年第8期1136-1143,共8页
色斑不良(Mura)是薄膜晶体管液晶显示器常见的显示缺陷,严重影响产品品质。色斑不良表现形式多样,原因也各不相同。本文针对8.5世代线发生于81.28 cm(32 in)产品上的一种固定位置发绿条状Mura,通过实物解析、设备排查和不同工艺条件试验... 色斑不良(Mura)是薄膜晶体管液晶显示器常见的显示缺陷,严重影响产品品质。色斑不良表现形式多样,原因也各不相同。本文针对8.5世代线发生于81.28 cm(32 in)产品上的一种固定位置发绿条状Mura,通过实物解析、设备排查和不同工艺条件试验,对不良机理进行研究。实验结果表明,81.28 cm(32 in)产品彩膜绿像素使用的G-1型光刻胶受光照后性质发生变化是导致该不良的直接原因。进一步确认不良的根本原因为G-1型光刻胶中颜料分子锌酞菁化合物在600~700 nm光波处存在吸收峰,被光照后吸收光子生成自由载流子,形成附加电场,导致该区域液晶偏转异常,显示出宏观绿Mura。从阻隔光照和减少光生载流子产生数量两个方向入手,通过添加高敏感度光起始剂和使用颜色浓度更高的颜料分子,形成两种改善材料,量产导入后,均成功将不良发生率由约20%降低为0,有效提升了产品品质。 展开更多
关键词 TFT-LCD 绿mura 光照 光刻胶 附加电场
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TFT-LCD光致发绿不良改善、机理分析及研究 被引量:3
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作者 汪栋 张思凯 +4 位作者 万冀豫 袁剑峰 吴洪江 洪永泰 陈维涛 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2019年第1期1-6,共6页
广色域TFT-LCD产品需要使用高颜料浓度的RGB色阻,光照状态下易于发生发绿不良,严重影响TFT-LCD显示器件的视觉效果。通过研究不同成分的色阻制成的TFT-LCD与光电测试样板在光照前后的发绿情况以及光电特性变化,确定TFT-LCD光致发绿不良... 广色域TFT-LCD产品需要使用高颜料浓度的RGB色阻,光照状态下易于发生发绿不良,严重影响TFT-LCD显示器件的视觉效果。通过研究不同成分的色阻制成的TFT-LCD与光电测试样板在光照前后的发绿情况以及光电特性变化,确定TFT-LCD光致发绿不良源于绿色色阻中含有的金属酞箐类G颜料,且不良程度与绿色色阻中G颜料含量强关联。此类颜料具有共轭结构与半导体特性,光照状态下发生电子迁移,导致介质损耗因数升高,影响TFT-LCD的耦合电场,进而导致RGB像素亮度的差异化,形成光致发绿不良。依托方法:(1)在保证TFT-LCD样品色度规格的前提下,通过广色域G颜料以降低绿色色阻中的G颜料含量;(2)使用高敏感度的光起始剂,可以有效改善TFT-LCD产品的光致发绿不良,尤其方法(1)更为有效。本文建立TFT-LCD显色核心的彩色滤光片RGB色阻成分管理基准,同时搭建光致发绿不良的生产线与实验室评价体系,为后续色阻材料开发提供理论指导。 展开更多
关键词 TFT-LCD 光致发绿 色阻 酞箐颜料 介质损耗因数
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TFT-LCD发粉不良改善及机理分析 被引量:1
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作者 汪栋 万冀豫 +4 位作者 王丹 郭瑞花 占红明 陈希 邵喜斌 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2021年第9期1264-1272,共9页
广色域、低功耗TFT-LCD在高温高湿运行测试时容易发生周边发粉不良,严重影响器件的视觉效果。本文研究了不同成分的绿色色阻、有源层与平坦层材料制成的微型液晶盒与TFT-LCD在光照、高温与高湿环境中的透过率变化情况,以及周边发粉的起... 广色域、低功耗TFT-LCD在高温高湿运行测试时容易发生周边发粉不良,严重影响器件的视觉效果。本文研究了不同成分的绿色色阻、有源层与平坦层材料制成的微型液晶盒与TFT-LCD在光照、高温与高湿环境中的透过率变化情况,以及周边发粉的起始时间,明确发粉不良的根本原因为绿色色阻中的非金属配合物分子结构的Y颜料,且不良程度与产品边框、有源层与平坦层材料吸水率相关。通过使用高疏水性、高硬化度的绿色色阻材料与低吸水率的平坦层材料,在不损失TFT-LCD透过率的前提下,有效改善了TFT-LCD发粉不良,实现a-Si产品高温高湿运行测试(THO)运行1000 h以上,a-IGZO产品运行500 h以上不产生发粉不良,并建立TFT-LCD显色核心的RGB色阻材料的成分管理基准,搭建发粉不良的生产线与实验室评价体系。 展开更多
关键词 薄膜晶体管液晶显示器 发粉不良 绿色色阻材料 颜料 荧光共振能量转移
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