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衬垫开裂分析与改善
1
作者
孟昭光
冉彦祥
《印制电路信息》
2015年第3期133-139,共7页
由于衬垫开裂原因涉及PCB布图设计、PCB材料及加工工艺、SMT焊接工艺、BGA芯片元器件等多个领域,相信一直是困扰PCB业界失效问题最头疼的一点。本文正是从材料、加工工艺、焊盘设计、组装等方面导致衬垫开裂进行总结分析,归纳出一套预...
由于衬垫开裂原因涉及PCB布图设计、PCB材料及加工工艺、SMT焊接工艺、BGA芯片元器件等多个领域,相信一直是困扰PCB业界失效问题最头疼的一点。本文正是从材料、加工工艺、焊盘设计、组装等方面导致衬垫开裂进行总结分析,归纳出一套预防开裂失效的有效措施,尤其是对无铅衬垫开裂失效有一定的参考意义。文章同时也介绍了两种衬垫开裂的检测方法,提出了在衬垫开裂判断标准方面的一些建议。
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关键词
衬垫开裂
焊盘设计
无铅焊接
流程控制
贴装工艺
检测评判方法
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职称材料
题名
衬垫开裂分析与改善
1
作者
孟昭光
冉彦祥
机构
东莞市五株电子科技有限公司
出处
《印制电路信息》
2015年第3期133-139,共7页
文摘
由于衬垫开裂原因涉及PCB布图设计、PCB材料及加工工艺、SMT焊接工艺、BGA芯片元器件等多个领域,相信一直是困扰PCB业界失效问题最头疼的一点。本文正是从材料、加工工艺、焊盘设计、组装等方面导致衬垫开裂进行总结分析,归纳出一套预防开裂失效的有效措施,尤其是对无铅衬垫开裂失效有一定的参考意义。文章同时也介绍了两种衬垫开裂的检测方法,提出了在衬垫开裂判断标准方面的一些建议。
关键词
衬垫开裂
焊盘设计
无铅焊接
流程控制
贴装工艺
检测评判方法
Keywords
liner crater crack
Welding Plate Design
Lead-Free Soldering
Process Control
SMT Process
Testing Evaluation Method
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
衬垫开裂分析与改善
孟昭光
冉彦祥
《印制电路信息》
2015
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