基于局部细节谱的齿轮故障识别研究

经典的递归定量分析方法(Recurrence Quantification Analysis,RQA)是通过研究递归图中递归点在水平、垂直及对角方向的分布规律,对递归图进行定量研究。提出了一种新的递归定量分析方法:局部细节谱(Local Detail Spectrum,LDS)。该方法更关注于递归图中有限区间内递归点局部分布规律的定量分析。将所提出的局部细节谱用于齿轮故障分类,实验证明,局部细节谱可取得较好的故障识别效果。

神光Ⅱ间接驱动内爆实验Ar X射线谱线模拟研究

ICF内爆物理研究中,示踪元素X射线谱诊断方法是推测内爆压缩温度、密度以及燃料混合状态的有效方法.针对其中的非平衡物理过程,研制了非局域热动平衡(non-LTE)下一维谱线输运程序Alpha.程序以辐射流体计算给出的温度、密度等量为输入条件,求解细致组态(DCA)模型下的原子动力学方程和辐射输运方程,自洽给出谱线不透明度,和成像面上的X射线谱分布.利用该程序,模拟了神光Ⅱ装置上的掺Ar靶丸内爆示踪元素X射线谱诊断实验,研究结果表明,谱线的自吸收效应影响发射的X射线谱的强度和形状,谱线的宽度对自吸收效应的强弱也有影响.因此,在对X射线谱的数值模拟中应该考虑自吸收效应.另外,与LTE近似下的发射谱的比较表明,LTE近似下,等离子体电离度大～1,发射谱的形状与non-LTE的结果不同,且LTE近似下,谱线的强度比non-LTE的谱线强度大5—10倍,采用LTTE近似是不合适的.