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道比技术在样品总β放射性测定中的应用
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作者 沈荣祖 《核电子学与探测技术》 CAS 1987年第2期124-126,共3页
用于低水平总β放射性的测量仪器,为提高其检测灵敏度,除采用各种措施降低本底外,还可减小被测样品与探测器间的距离以获得高探测效率,以及增加探测器的有效灵敏面积,使在不增加样品自吸收影响条件下能检测更多的有效样品量。随之而来... 用于低水平总β放射性的测量仪器,为提高其检测灵敏度,除采用各种措施降低本底外,还可减小被测样品与探测器间的距离以获得高探测效率,以及增加探测器的有效灵敏面积,使在不增加样品自吸收影响条件下能检测更多的有效样品量。随之而来的问题是探测器与被测样品间所张平均立体角的影响,以及对这种影响的实验修正。 展开更多
关键词 低水平测量 β辐射 道比技术
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