0.6—2.75MeV质子引起的Ta、Au和Bi的M壳层X—线产生截面

用0.6～2.75MeV质子轰击Ta、An和Bi薄靶,测得M—壳层X—线产生截面。实验结果与平面波玻恩近似(PWBA)理论计算值作了比较。