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GaAsBi半导体材料的制备及应用研究进展
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作者 马玉麟 郭祥 丁召 《人工晶体学报》 北大核心 2024年第1期25-37,共13页
稀铋Ⅲ-Ⅴ半导体材料在电子和光电子领域具有广泛的应用前景,其制备方法主要有分子束外延法(MBE)和金属有机物气相外延法(MOVPE)。本文聚焦于具有较大带隙收缩、温度不敏感以及强自旋轨道分裂等特殊物理特性的GaAs_(x)Bi_(1-x)半导体材... 稀铋Ⅲ-Ⅴ半导体材料在电子和光电子领域具有广泛的应用前景,其制备方法主要有分子束外延法(MBE)和金属有机物气相外延法(MOVPE)。本文聚焦于具有较大带隙收缩、温度不敏感以及强自旋轨道分裂等特殊物理特性的GaAs_(x)Bi_(1-x)半导体材料,对其制备方法和研究进展进行了综述。研究人员对GaAsBi材料的研究主要集中在薄膜、多量子阱、纳米线和量子点材料的制备。在薄膜材料方面,侧重于研究制备工艺条件对GaAsBi薄膜的影响,例如低衬底温度、低生长速率和非常规的Ⅴ/Ⅲ束流比;在多量子阱材料方面,采用双衬底温度技术有效减少Bi偏析问题;对于纳米线和量子点材料,金属Bi作为表面活性剂可以改善材料的形貌和光学性能。然而,目前在该材料研究和应用方面仍存在挑战,如薄膜材料的结晶质量恶化和金属Bi分凝团聚,以及量子点材料中Bi的均匀性和形成机制的争议。解决这些问题对于提高GaAs_(x)Bi_(1-x)半导体材料的质量和促进器件发展具有重要意义。 展开更多
关键词 稀铋Ⅲ-Ⅴ半导体材料 GaAsBi薄膜 多量子阱材料 量子点材料 MBE MOVPE
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Development of in situ characterization techniques in molecular beam epitaxy
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作者 Chao Shen Wenkang Zhan +7 位作者 Manyang Li Zhenyu Sun Jian Tang Zhaofeng Wu Chi Xu Bo Xu Chao Zhao Zhanguo Wang 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2024年第3期9-32,共24页
Ex situ characterization techniques in molecular beam epitaxy(MBE)have inherent limitations,such as being prone to sample contamination and unstable surfaces during sample transfer from the MBE chamber.In recent years... Ex situ characterization techniques in molecular beam epitaxy(MBE)have inherent limitations,such as being prone to sample contamination and unstable surfaces during sample transfer from the MBE chamber.In recent years,the need for improved accuracy and reliability in measurement has driven the increasing adoption of in situ characterization techniques.These techniques,such as reflection high-energy electron diffraction,scanning tunneling microscopy,and X-ray photoelectron spectroscopy,allow direct observation of film growth processes in real time without exposing the sample to air,hence offering insights into the growth mechanisms of epitaxial films with controlled properties.By combining multiple in situ characterization techniques with MBE,researchers can better understand film growth processes,realizing novel materials with customized properties and extensive applications.This review aims to overview the benefits and achievements of in situ characterization techniques in MBE and their applications for material science research.In addition,through further analysis of these techniques regarding their challenges and potential solutions,particularly highlighting the assistance of machine learning to correlate in situ characterization with other material information,we hope to provide a guideline for future efforts in the development of novel monitoring and control schemes for MBE growth processes with improved material properties. 展开更多
关键词 epitaxial growth thin film in situ characterization molecular beam epitaxy(MBE)
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MBE风格在少儿艺术教育品牌包装设计中的应用
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作者 侯毅 《中国包装》 2024年第3期78-80,共3页
MBE是2015年诞生于法国的一种设计风格,取自于原创作者MBE的名字。本研究针对现阶段少儿艺术教育品牌包装设计存在的一些问题,分析探究将MBE风格应用于少儿艺术教育品牌包装设计中的意义,为包装设计提供新的设计思路和探索。
关键词 MBE风格 少儿艺术教育 品牌 包装设计
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埃特曼半导体:GaN外延工厂开业
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《变频器世界》 2024年第5期24-24,共1页
5月17日,据“投资厦门”官微消息,埃特曼(厦门)光电科技有限公司已于13日在集美明盛高新产业园举行了埃特曼厦门外延工厂开业仪式。据透露,该工厂是埃特曼半导体打造的第二个示范外延工厂,将布局14台MBE设备,其中包含8台先进的1400型号H... 5月17日,据“投资厦门”官微消息,埃特曼(厦门)光电科技有限公司已于13日在集美明盛高新产业园举行了埃特曼厦门外延工厂开业仪式。据透露,该工厂是埃特曼半导体打造的第二个示范外延工厂,将布局14台MBE设备,其中包含8台先进的1400型号Hybrid-MBE,该设备可大幅提升外延片产能,为射频、功率器件提供高性能、低成本的GaN外延片。 展开更多
关键词 光电科技 外延片 半导体 GaN 功率器件 MBE 高新产业园 开业
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MBE插画风格在二维动画制作中的创新应用
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作者 舒展 林华艳 《鞋类工艺与设计》 2024年第16期90-92,共3页
在数字艺术和动画设计的繁荣时代,其中MBE插画风格以其独特的美学理念,正在二维动画制作中占据一席之地。MBE风格,以其简洁而不失精致的线条设计,鲜明且富有层次的色彩搭配,以及能够生动表达情感的形态塑造,为二维动画带来了前所未有的... 在数字艺术和动画设计的繁荣时代,其中MBE插画风格以其独特的美学理念,正在二维动画制作中占据一席之地。MBE风格,以其简洁而不失精致的线条设计,鲜明且富有层次的色彩搭配,以及能够生动表达情感的形态塑造,为二维动画带来了前所未有的视觉冲击力和艺术感染力。MBE风格的核心特征在于其简洁性。在信息爆炸的时代,观众的注意力往往被各种复杂的视觉元素分散,而MBE风格则通过简洁的线条,去除了多余的装饰,使画面更加清晰,更易于捕捉关键信息。同时,其鲜明的色彩搭配不仅能够吸引观众的视线,还能通过色彩的对比和层次,创造出丰富的视觉效果,使动画更具活力和深度。 展开更多
关键词 MBE插画风格 二维动画 视觉效果
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拓扑绝缘体(Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)薄膜制备及其电输运性能研究
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作者 张哲瑞 仇怀利 +3 位作者 周同 黄文宇 葛威锋 杨远俊 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2023年第11期1580-1584,共5页
文章利用分子束外延(molecular beam epitaxy, MBE)法,在超高真空的条件下,于蓝宝石衬底上制备超薄的高质量拓扑绝缘体(Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)薄膜。利用反射高能电子衍射(reflection high-energy electron diffraction, RHEED)仪、... 文章利用分子束外延(molecular beam epitaxy, MBE)法,在超高真空的条件下,于蓝宝石衬底上制备超薄的高质量拓扑绝缘体(Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)薄膜。利用反射高能电子衍射(reflection high-energy electron diffraction, RHEED)仪、X射线衍射(X-ray diffraction, XRD)仪、显微共焦激光拉曼光谱仪(micro confocal laser Raman spectrometer)和X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)仪对不同Sb掺杂量的样品进行表征,并获得最佳的制备参数。研究结果表明:衬底温度为460℃时Bi和Te的流量比为1∶16左右;在Sb温度为350、360、370、380℃时,可以制得高质量的(Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)薄膜。利用霍尔效应测量系统测量样品的电阻率、霍尔系数、迁移率和载流子浓度;测量结果表明,(Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)薄膜的载流子浓度和主要载流子类型随x的变化而发生相应的变化,并伴随着费米能级位置的调谐,随着x的增加,在x=0.53到x=0.68的掺杂过程中,费米能级从导带下移到带隙,最终进入价带,多数载流子类型也从自由电子转变成空穴,(Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)实现了从n型到p型的转化。 展开更多
关键词 分子束外延(MBE) 拓扑绝缘体 (Bi_(1-x)Sb_(x))_(2)Te_(3)薄膜 霍尔系数 载流子迁移率
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Dr.Eberl MBE-Komponenten GmbH公司
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《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2023年第5期928-928,共1页
Dr.Eberl MBE-Komponenten GmbH公司由Karl Eberl博士在1990年创建,已经有32年的历史。Karl Eberl博士有多年的MBE研究经验,曾在IBM美国Yorktown实验室工作,并在斯图加特的Solid State研究所担任MBE课题组组长达10年。目前公司有近50名... Dr.Eberl MBE-Komponenten GmbH公司由Karl Eberl博士在1990年创建,已经有32年的历史。Karl Eberl博士有多年的MBE研究经验,曾在IBM美国Yorktown实验室工作,并在斯图加特的Solid State研究所担任MBE课题组组长达10年。目前公司有近50名员工,其中MBE专业的博士有13位。 展开更多
关键词 斯图加特 课题组组长 MBE 实验室
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High-temperature continuous-wave operation of 1310 nm InAs/GaAs quantum dot lasers
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作者 苏向斌 邵福会 +11 位作者 郝慧明 刘汗青 李叔伦 戴德炎 尚向军 王天放 张宇 杨成奥 徐应强 倪海桥 丁颖 牛智川 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第9期510-513,共4页
Here we report 1.3μm electrical injection lasers based on InAs/GaAs quantum dots(QDs)grown on a GaAs substrate,which can steadily work at 110-℃without visible degradation.The QD structure is designed by applying the... Here we report 1.3μm electrical injection lasers based on InAs/GaAs quantum dots(QDs)grown on a GaAs substrate,which can steadily work at 110-℃without visible degradation.The QD structure is designed by applying the Stranski-Krastanow growth mode in solid source molecular beam epitaxy.The density of InAs QDs in the active region is increased from 3.8×10^(10)cm^(-2)to 5.9×10^(10)cm^(-2).As regards laser performance,the maximum output power of devices with lowdensity QDs as the active region is 65 m W at room temperature,and that of devices with the high-density QDs is 103 mW.Meanwhile the output power of high-density devices is 131 mW under an injection current of 4 A at 110-℃. 展开更多
关键词 InAs/GaAs quantum dots high-operating-temperature laser molecular beam epitaxy(MBE)
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InGaAs/GaAs异质薄膜的MBE生长研究 被引量:11
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作者 罗子江 周勋 +4 位作者 杨再荣 贺业全 何浩 邓朝勇 丁召 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第5期846-849,共4页
利用分子束外延技术,在GaAs(001)基片上外延InGaAs/GaAs异质薄膜,通过RHEED图像演变实时监控薄膜生长状况,采用RHEED强度振荡测量薄膜生长速率,确定薄膜中In/Ga的组分比,并提出控制InGaAs薄膜中In/Ga组分比的生长方法。根据RHEED图像,... 利用分子束外延技术,在GaAs(001)基片上外延InGaAs/GaAs异质薄膜,通过RHEED图像演变实时监控薄膜生长状况,采用RHEED强度振荡测量薄膜生长速率,确定薄膜中In/Ga的组分比,并提出控制InGaAs薄膜中In/Ga组分比的生长方法。根据RHEED图像,指出获得的InGaAs薄膜处于(2×3)表面重构相。样品经过淬火至室温后对样品做STM扫描分析,证实样品为表面原子级平整的InGaAs/GaAs异质薄膜。 展开更多
关键词 MBE RHEED STM InGaAs异质薄膜
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分子束外延HgCdTe薄膜As掺杂P型激活研究(英文) 被引量:9
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作者 吴俊 徐非凡 +3 位作者 巫艳 陈路 于梅芳 何力 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期81-83,共3页
报道了利用As4 作为掺杂源获得原位As掺杂MBEHgCdTe材料的研究结果.利用高温退火技术激活As使其占据Te位形成受主.对原位As掺杂MBEHgCdTe材料进行SIMS及Hall测试,证实利用原位As掺杂及高温退火可获得P型MBEHgCdTe材料.
关键词 HGCDTE薄膜 分子束外延 掺杂 As HGCDTE材料 激活 P型 MBE 退火技术 研究结果 SIMS 高温退火 原位
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在RHEED实时监控下GaAs晶体生长研究 被引量:9
11
作者 罗子江 周勋 +4 位作者 杨再荣 贺业全 何浩 邓朝勇 丁召 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期704-708,共5页
采用分子束外延技术,利用RHEED图像可研究GaAs表面重构方式和生长机制。报道了一种新型的分子束外延方法,在RHEED实时监控下,利用GaAs(001)基片同质外延GaAs。通过改变生长和退火的时间与温度(420、500、580℃),结合RHEED图像演变与GaA... 采用分子束外延技术,利用RHEED图像可研究GaAs表面重构方式和生长机制。报道了一种新型的分子束外延方法,在RHEED实时监控下,利用GaAs(001)基片同质外延GaAs。通过改变生长和退火的时间与温度(420、500、580℃),结合RHEED图像演变与GaAs表面平整度(粗糙化)的联系,得到表面原子级平整的GaAs样品。完成生长后对样品做EDS分析,确定样品为高纯度GaAs。利用这种方法,得到厚度约为4μm砷化镓晶体。 展开更多
关键词 MBE RHEED图像 粗糙化 EDS GaAs表面重构
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MBE生长GaAs(001)薄膜表面的Ostwald熟化过程研究 被引量:7
12
作者 王继红 罗子江 +4 位作者 周勋 郭祥 周清 刘珂 丁召 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第6期847-849,853,共4页
采用带有RHEED的MBE技术,利用RHEED图像演变实时监控薄膜生长状况,通过RHEED强度振荡测算薄膜生长速率,在GaAs(001)基片上同质外延GaAs薄膜。利用STM对MBE生长的GaAs薄膜表面的熟化过程进行了深入研究。研究发现,随着退火时间的延长,刚... 采用带有RHEED的MBE技术,利用RHEED图像演变实时监控薄膜生长状况,通过RHEED强度振荡测算薄膜生长速率,在GaAs(001)基片上同质外延GaAs薄膜。利用STM对MBE生长的GaAs薄膜表面的熟化过程进行了深入研究。研究发现,随着退火时间的延长,刚完成生长的GaAs表面从具有大量岛和坑的粗糙表面逐渐熟化,在熟化过程中岛不断合并扩大并与平台结合,而坑却逐渐消失。指出当熟化过程完成后GaAs表面将进入原子级平坦状态,并详细解释了熟化过程GaAs表面各种形貌特征形成的内在原因。 展开更多
关键词 GaAs薄膜 MBE RHEED STM 熟化
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碲镉汞 p^+-on-n长波异质结探测器的研究 被引量:9
13
作者 叶振华 吴俊 +4 位作者 胡晓宁 巫艳 王建新 李言谨 何力 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第6期423-426,共4页
报道了HgCdTep+onn长波异质结焦平面器件的研究结果.采用由分子束外延(MBE)和原位掺杂技术生长的p+onn异质结材料,通过湿法腐蚀、台面钝化、台面金属化、铟柱制备和互连等工艺,得到了HgCdTep+onn长波异质结焦平面器件.根据IV实验结果和... 报道了HgCdTep+onn长波异质结焦平面器件的研究结果.采用由分子束外延(MBE)和原位掺杂技术生长的p+onn异质结材料,通过湿法腐蚀、台面钝化、台面金属化、铟柱制备和互连等工艺,得到了HgCdTep+onn长波异质结焦平面器件.根据IV实验结果和暗电流理论,拟合计算和分析了各种暗电流机制对器件性能的影响,且获得了器件的响应光谱和探测率. 展开更多
关键词 异质结 焦平面器件 碲镉汞 MBE 暗电流 器件性能 湿法腐蚀 长波 结焦 工艺
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p型ZnO掺杂及其发光器件研究进展与展望 被引量:9
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作者 王新胜 杨天鹏 +4 位作者 刘维峰 徐艺滨 梁红伟 常玉春 杜国同 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期104-108,共5页
ZnO是一种新型的Ⅱ-Ⅵ族宽带隙半导体,具有很多说异的的光电性能。但一般制备出的ZnO薄膜材料均是n型,很难实现p型的掺杂。ZnO的p型掺杂是实现其光电器件应用的关键技术,也是目前ZnO研究的关键课题。目前在p型,ZnO的掺杂理论和实验方面... ZnO是一种新型的Ⅱ-Ⅵ族宽带隙半导体,具有很多说异的的光电性能。但一般制备出的ZnO薄膜材料均是n型,很难实现p型的掺杂。ZnO的p型掺杂是实现其光电器件应用的关键技术,也是目前ZnO研究的关键课题。目前在p型,ZnO的掺杂理论和实验方面都有很大的进展,对此进行了详细的分析与论述,并且展望了p型ZnO薄膜制备的前景。 展开更多
关键词 ZNO薄膜 P型掺杂 第一性原理 MOCVD MBE
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InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析 被引量:8
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作者 龚谦 梁基本 +5 位作者 徐波 丁鼎 王占国 裘晓辉 商广义 白春礼 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第8期662-666,共5页
我们利用分子束外延( M B E)技术在 Ga As(001)衬底上生长 18 个原子层的 In As,形成了纳米尺寸的 In As 量子点.对 In As 量子点进行原子力显微镜( A F M )测量,得到了量子点的高度和横向... 我们利用分子束外延( M B E)技术在 Ga As(001)衬底上生长 18 个原子层的 In As,形成了纳米尺寸的 In As 量子点.对 In As 量子点进行原子力显微镜( A F M )测量,得到了量子点的高度和横向尺寸的统计分布以及量子点的测量形貌特征. 展开更多
关键词 砷化铟 外延生长 测量 MBE技术
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CdTe/Si复合衬底Ex-situ退火研究 被引量:8
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作者 刘铭 周立庆 +3 位作者 巩锋 常米 王经纬 王丛 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2012年第8期917-920,共4页
复合衬底CdTe/ZnTe/Si的晶体质量是导致随后外延的HgCdTe外延膜高位错密度的主要原因之一,因此如何提高复合衬底CdTe/Si晶体质量是确保硅基碲镉汞走上工程化的关键所在。降低复合衬底CdTe/Si位错密度方法一般有:生长超晶格缓冲层、衬底... 复合衬底CdTe/ZnTe/Si的晶体质量是导致随后外延的HgCdTe外延膜高位错密度的主要原因之一,因此如何提高复合衬底CdTe/Si晶体质量是确保硅基碲镉汞走上工程化的关键所在。降低复合衬底CdTe/Si位错密度方法一般有:生长超晶格缓冲层、衬底偏向、In-situ退火和Ex-situ退火等,本文主要研究Ex-situ退火对复合衬底CdTe/Si晶体质量的影响。研究表明复合衬底经过Ex-situ退火后位错密度最好值达4.2×105cm-2,双晶半峰宽最好值达60arcsec。 展开更多
关键词 CdTe/Si MBE 晶体质量 Ex-situ退火
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RHEED实时监控下MBE生长不同In组分的InGaAs薄膜 被引量:5
17
作者 罗子江 周勋 +5 位作者 贺业全 何浩 郭祥 张毕禅 邓朝勇 丁召 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第11期2107-2111,共5页
利用分子束外延技术,通过RHEED图像演变实时监控薄膜生长状况,采用RHEED强度振荡测量薄膜生长速率,固定Ga源温度、改变In源温度在GaAs(001)基片上外延生长了不同In组分(39%、29%、19%)的InGaAs薄膜。比较RHEED强度振荡以及RHEED衍射图像... 利用分子束外延技术,通过RHEED图像演变实时监控薄膜生长状况,采用RHEED强度振荡测量薄膜生长速率,固定Ga源温度、改变In源温度在GaAs(001)基片上外延生长了不同In组分(39%、29%、19%)的InGaAs薄膜。比较RHEED强度振荡以及RHEED衍射图像,发现随着In组分的增加In-GaAs的生长将很快进入三维粗糙表面生长模式,并指出In0.19Ga0.81As和In0.29Ga0.71As薄膜处于(2×3)表面重构相。In0.19Ga0.81As样品进行退火处理后完成STM扫描分析,证实样品为表面原子级平整的In-GaAs薄膜。 展开更多
关键词 MBE RHEED STM InGaAs薄膜
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薄膜表面的分形特征 被引量:5
18
作者 汤晓明 魏赛珍 +3 位作者 毛祖遂 李海洋 陈晓峰 郑永铭 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1999年第5期403-407,共5页
在计算机上用随机数相加的方法产生了一个分形表面,对这个表面的模拟测量表明,z方向分辨率变化对分形维数测量结果影响很小,x、y方向分辨率降低时会导致测量结果统计误差增大用扫描隧道显微镜(STM)测量了沉积在三种不同基底上的Au... 在计算机上用随机数相加的方法产生了一个分形表面,对这个表面的模拟测量表明,z方向分辨率变化对分形维数测量结果影响很小,x、y方向分辨率降低时会导致测量结果统计误差增大用扫描隧道显微镜(STM)测量了沉积在三种不同基底上的Au膜的分形维数.测得Au/陶瓷的分形维数D=2.15,Au/光学玻璃的分形维数D=2.06.Au/载玻片上各点的分形维数较不一致.同时讨论了多图方法中各单图曲线之间不衔接的原因. 展开更多
关键词 生长机制 表面粗糙度 分形维数 薄膜 STM MBE
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MBE外延InSb基CdTe工艺研究 被引量:5
19
作者 王丛 刘铭 +2 位作者 王经纬 尚林涛 周立庆 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期474-478,共5页
成功制备了CdTe/InSb复合衬底,为长波HgCdTe外延提供了可能。通过工艺研究解决了InSb氧化层去除及In元素扩散控制两个难点问题,使用As钝化法可以解决双腔衬底转移的问题,在常用的退火工艺下,通过厚度的调整可以阻挡In元素的扩散。
关键词 MBE CdTe/InSb RHEED In扩散 SIMS
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GaAs脊形量子线结构的MBE生长机理研究 被引量:4
20
作者 牛智川 周增圻 +5 位作者 林耀望 周帆 潘昆 张子莹 祝亚芹 王守武 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第3期227-230,共4页
本文报道了非平面衬底上分子束外延生长GaAs脊形量子线结构的实验研究.已成功地在GaAs(001)刻蚀条形衬底上生长出了由(111)面和(113)面构成的两种脊形量子线结构.本文讨论了非平面衬底上MBE生长脊形结构的... 本文报道了非平面衬底上分子束外延生长GaAs脊形量子线结构的实验研究.已成功地在GaAs(001)刻蚀条形衬底上生长出了由(111)面和(113)面构成的两种脊形量子线结构.本文讨论了非平面衬底上MBE生长脊形结构的形成机制,认为在一定的生长条件下,脊形结构的表面取向是由两个原始交界面上生长速率的相对差异决定的;而生长速率的差异是由表面再构的不同决定的. 展开更多
关键词 砷化镓 脊形量子线结构 MBE生长
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