MC/DC最小测试用例集递归分块矩阵生成算法

测试用例个数可以影响软件测试的成本与效率,因此最小测试用例集的生成算法具有重要的实用价值。对布尔表达式语法树采用递归分块矩阵处理,得到了MC/DC最小测试用例集生成算法。并证明了该算法的正确性,给出其成立的前提条件。

MC/DC准则在嵌入式软件测试中的应用

MC/DC准则被广泛应用于高安全性的嵌入式软件独立验证和确认中,是一种实用而高效的软件结构覆盖率验证准则。基于嵌入式软件测试的特点与MC/DC的基本概念,提出了MC/DC的最小测试集的形成方法。结合工程应用实例,利用自动化测试工具实现MC/DC测试流程。MC/DC准则在核电仪控系统中的成功应用,对于航空、军工、机器人等高安全性和高可靠性领域有着很好的借鉴作用。

基于MC/DC最小测试用例集设计方法研究

动态测试主要是通过设计测试用例、开发和运行测试程序来发现软件中存在的错误。如何判断设计的测试用例是充分的,针对不同级别的软件,DO-178B规定了不同的结构覆盖标准。本文针对A级软件,给出一种适合MC/DC准则的最小测试用例集快速设计方法。针对一个判定中同一条件出现多次的复杂情形引起的两种不同用例设计思路,结合LDRATestbed覆盖分析结果,总结出合理的设计方法。

MC/DC最小测试用例集快速生成算法

以条件判定组合的语法树为研究对象,总结语法树的左右分支对判定结果的影响方式及结果,根据其影响特点提出超越语法树的快速生成改进判定/条件覆盖最小测试用例集的算法。与其他算法在在空间及时间方面进行比较,结果表明该算法具有一定的优越性。

条件判定覆盖和修正条件判定覆盖的差异

条件判定覆盖(Condition/Decision Coverage即C/DC)和修正条件判定覆盖(Modified Condition/Decision Coverage即MC/DC)均是软件测试方法,作者首先介绍了这两种测试方法, 之后总结出了两者所存在的不同之处,其中以一些实例来证明两种方法的差异.

对修正条件/判定覆盖方法测试集个数的分析

修正条件/判定覆盖(MC/DC)是软件测试方法之一。文中通过介绍MC/DC这种测试方法推导出一个关于任意一个布尔表达式其测试集个数的问题的结论。首先从介绍这种测试方法的定义及如何寻找其测试集的方法开始出发;其次推导出关于测试集个数的结论,并加以理论证明;最后以一些实例来说明此结论。