面向故障定位的基于MC/DC的测试用例约简方法

对不断更新的软件进行回归测试时,持续增加的测试用例会造成累计测试用例数量庞大,进而影响测试成本。在故障定位领域,已有研究在考虑语句覆盖、路径覆盖等的基础上,提出了CMR&PVR等不同的测试用例约简方法。然而,这些方法在一定程度上影响了原始测试用例集的MC/DC(修订的条件/判定)覆盖率。提出一种以MC/DC覆盖为基础的综合测试用例约简方法 MCDCR,利用该方法对原始测试用例集约简后,在确保原有故障定位准确性并保持较高约简比的同时,大幅提高了测试用例对程序的MC/DC覆盖率。采用Ochiai方法在Siemens程序集上进行了实验及验证,结果表明MCDCR约简方法的综合效果明显优于已有的约简方法。