基于脉冲时延估计的荧光寿命表征方法

荧光检测和分析技术中,荧光寿命的精确测量具有重要意义。针对纳秒级荧光寿命在流式细胞分析系统中无法直接测量的问题,提出一种基于互相关算法的脉冲时延估计荧光寿命表征方法。该方法将改进的线性调频Z变换算法与相关峰内插算法相结合,并与标准FFT算法仿真做对比,通过对哺乳动物细胞的荧光寿命进行测量,将所得数据进行处理,验证线性调频Z变换(MCZT)和相关峰内插(FICP)算法性能。实验结果表明,使用该算法降低了FFT计算带来的栅栏效应,可以提高互相关函数的分辨能力,测量荧光寿命的相对误差提高了4.344 3%。