利用测试数据获得芯片端口EMI特性的改进方法

介绍了一种通过测试进行芯片EMI建模的方法,它能够在信号传输的过程中同时测试到信号线源端和负载端的阻抗及干扰电平,能够避免由于产品功能切换导致的测量误差,且过程简单,所需资源少。