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MIPS_RAC终端测试于0.13μm逻辑平台的工艺优化
1
作者
黄晨
蔡孟峰
《电子与封装》
2014年第1期44-47,共4页
高清数字电视的HD-DVR机顶盒已经成为了全球发展的趋势,MIPS_RAC终端测试作为其中缓存的反应速度的主要芯片参数,其工艺窗口直接关系到机顶盒成品率的高低和稳定。文章研究了MIPS_RAC终端测试与器件速度之间的关系,并定义了MIPS_RAC在0...
高清数字电视的HD-DVR机顶盒已经成为了全球发展的趋势,MIPS_RAC终端测试作为其中缓存的反应速度的主要芯片参数,其工艺窗口直接关系到机顶盒成品率的高低和稳定。文章研究了MIPS_RAC终端测试与器件速度之间的关系,并定义了MIPS_RAC在0.13μm的通用逻辑工艺平台上的工艺安全范围。
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关键词
机顶盒
mips_rac
器件
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职称材料
题名
MIPS_RAC终端测试于0.13μm逻辑平台的工艺优化
1
作者
黄晨
蔡孟峰
机构
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
出处
《电子与封装》
2014年第1期44-47,共4页
文摘
高清数字电视的HD-DVR机顶盒已经成为了全球发展的趋势,MIPS_RAC终端测试作为其中缓存的反应速度的主要芯片参数,其工艺窗口直接关系到机顶盒成品率的高低和稳定。文章研究了MIPS_RAC终端测试与器件速度之间的关系,并定义了MIPS_RAC在0.13μm的通用逻辑工艺平台上的工艺安全范围。
关键词
机顶盒
mips_rac
器件
Keywords
set-top box
MIPS RAC
device
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
MIPS_RAC终端测试于0.13μm逻辑平台的工艺优化
黄晨
蔡孟峰
《电子与封装》
2014
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